Двухколонные СЭМ
  • TESCAN LYRA 3 - Автоэмиссионный СЭМ с ионной колонной
  • TESCAN FERA 3 - Двухколонный СЭМ
Компактные/одноколонные СЭМ
  • TESCAN VEGA - СЭМ с вольфрамовым катодом
  • TESCAN MIRA3 - СЭМ с полевой эмиссией
  • TESCAN MAIA3 - СЭМ с полевой эмиссией и с иммерсионной оптикой

Описание методик

Полуконтактный АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Многопроходные Методики

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы