Калибровочные и тестовые образцы - ЭМТИОН
PFM03

Тестовый образец для PFM (микроскопии пьезоотклика) периодически-поляризованный ниобат лития (PPNL)

Запрос цены Подробнее

Тестовый образец для PFM (микроскопии пьезоотклика) периодически-поляризованный ниобат лития (PPNL)

SiC/0.75

Калибровочные моноатомные ступени, ось: Z

Запрос цены Подробнее

Калибровочные моноатомные ступени, ось: Z

TGZ1

Калибровочная решетка ось: Z

Запрос цены Подробнее

Калибровочная решетка ось: Z

TGQ1

Калибровочная решетка оси: X, Y, Z

Запрос цены Подробнее

Калибровочная решетка оси: X, Y, Z

TGT1

Калибровочная решетка для определения остроты и формы иглы

Запрос цены Подробнее

Калибровочная решетка для определения остроты и формы иглы

Описание методик

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия — КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]


Рамановская спектроскопия

В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]


Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Идентификация драгоценных камней с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света

В настоящее время на ювелирном рынке существует большое разнообразие […]


Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы