PFM03
Тестовый образец для PFM (микроскопии пьезоотклика) периодически-поляризованный ниобат лития (PPNL)
Запрос цены Подробнее
Описание методик
Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)
Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]
Микроскопия пьезоотклика (АСМ)
Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]
Амплитудно-модуляционная АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]
Метод отображения Фазы АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]
Научные результаты на оборудовании
Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.
Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]
Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии
Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]
Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated
При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]
Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN
Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]
