Описание методик
Полуконтактный АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]
Метод отображения Фазы АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]
Многопроходные Методики
Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]
Научные результаты на оборудовании
Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.
Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]
Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии
Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]
