Группа компаний “ЭМТИОН” занимается производством и поставками исследовательского лабораторного и технологического оборудования. Собственное производство компании сосредоточено в г Зеленоград (Москва). Производство компаний партнеров расположено в Российской Федерации, Республике Беларусь, Китайской Народной Республике, поставляемое оборудование не подлежит экспортным ограничениям.
Монокристальный дифрактометр с микрофокусным источником TD-5000
Рамановский микроскоп Confotec DUO
Система вибрационной защиты для атомно-силового микроскопа
Конфокальный рамановский (КР) спектрометр Confotec Uno
Рамановский микроскоп спектрометр Confotec MR200
Аналитический комплекс на базе спектрометра комбинационного рассеяния Confotec MR200
Комплект вакуумной арматуры для модернизации экспериментальной станции сверхвысоковакуумного канала вывода синхротронного излучения
Набор материалов и комплектующих для сборки «домика экспериментатора» экспериментальной станции сверхвысоковакуумного канала вывода синхротронного излучения
Поставка и ввод в эксплуатацию рентгеновского дифрактометра Tongda с опциями
Комплект оборудования и комплектующих для подготовки образцов для междисциплинарных исследований производства ООО “ЭМТИОН” позволяет подготавливать поверхность различных образцов методом плазмохимической обработки для последующих исследований, а также осаждать тонкопленочные покрытия. Комплекс ориентирована на лабораторное исследовательское и образовательное применение, а также мелкосерийное производство.
Комплект оборудования для изучения морфологии и микромеханических характеристик твердых тел в вакууме с возможностью деформации изучаемого образца.
Сканирующий оптоволоконный модуль для автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов
Платформа с системой подвода для сканирующего оптоволоконного модуля автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) Ntegra Spectra с принадлежностями
Оборудование для изучения свойств наноструктурированных материалов (далее Оборудование) обеспечивает интеграцию методов атомно-силовой и оптической, в т.ч. конфокальной, микроскопии и спектроскопии, в том числе Рамановской микроскопии и спектроскопии.
Оборудование для определения коэффициента трения образцов
Система диагностики дефектов в алмазных кристаллах
Микроскоп для инспекционного контроля полупроводниковых пластин ECLIPSE L300N
Комплект оборудования для модернизации атомно-силового микроскопа NTEGRA Prima
Атомно-силовой микроскоп Ntegra, дополненный модулями:
Поставка комплектующих для высокоточного измерительного оборудования
Поставка комплекта оборудования для монтажа и сборки образца излучателя одиночных фотонов на основе квантовых люминесцентных источников.
Поставка двойного монохроматора с нулевой дисперсией MZDD350i (Республика Беларусь)
Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA PRIMA для оснащения лаборатории «Зондовой микроскопии и физики поверхности» Саровского физико-технического института – филиала НИЯУ МИФИ
Поставка комплектующих стенда для исследования эмиссионных характеристик структур на основе диэлектрических слоев и комплекта деталей для откачного поста
Поставка и ввод в эксплуатацию зондовой нанолаборатории NTEGRA PRIMA II
Оснащение лаборатории функциональных материалов.
Поставка автоматизированного комплекса для исследования свойств наноструктурированных функциональных материалов, включая:
Поставка комплекса для учебно-исследовательской работы в области нанофизики и нанотехнологий на базе СЗМ «НаноЭдюкатор»
Поставка комплекса для подготовки поверхности кристаллов для анализа проб методами атомно-силовой микроскопии с системой оптического контроля
Поставка многофункционального комплекса подготовки и модификации поверхности материалов (МК-08), позволяющего обрабатывать поверхность различных материалов с целью подготовки и модификации поверхности методами плазмо-термической обработки (создание упрочняющих, защитных и декоративных покрытий), а также позволяющий осуществлять контроль параметров подготовленных и модифицированных поверхностей
Поставка междисциплинарного оптико-электронного комплекса исследования морфологии и физико-химических характеристик материалов и биообъектов
Поставка учебно-научного комплекса зондовой микроскопии предназначенного для микроанализа и морфологического анализа поверхности и для обучения основам нанотехнологий на основе сканирующих зондовых микроскопов.
Поставка технологической установки плазмохимического травления и осаждения для:
Оснащение лаборатории “Графеновые нанотехнологии”
Поставка технологической установки плазмохимического травления и осаждения для:
Оснащение междисциплинарной научно-образовательной лаборатории по направлению “нанотехнологии”
Работы по оснащению научно-учебной лаборатории по нанотехнологиям
Оснащение учебно-научной лаборатории нанотехнологий
Поставка междисциплинарного научно-образовательного комплекса для проектной деятельности учащихся
Поставка Электронно оптического комплекса для анализа морфологии кристаллов и проведения исследований морфологии и шероховатости широкого круга объектов методами: фазовой интерферометрии, интерферометрии белого света.
Работы по оснащению центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии»
Поставка аппаратного комплекса для проведения комплексных исследований поверхностей образцов методами зондовой микроскопии и спектроскопии.
Поставка комплекса исследований пьезоэлектрических свойств материалов.
Поставка комплектующих для сканирующего зондового микроскопа, пьезотрубки сканера.