
Eclipse L200
Инспекционный микроскоп для полупроводниковых пластин до 200 мм. Комплекс с загрузчиком NWL200 автоматизирует подачу образцов из кассет.
Всё оборудование раздела · 14 позиций

Инспекционный микроскоп для полупроводниковых пластин до 200 мм. Комплекс с загрузчиком NWL200 автоматизирует подачу образцов из кассет.

Инспекционный микроскоп для полупроводниковых пластин до 300 мм. Увеличенный столик позволяет контролировать всю поверхность без переустановки образца.

Прямой биологический микроскоп для клинических лабораторий и длительной ежедневной работы. Компактная конструкция и эргономичное управление для серийных наблюдений.

Инвертированная платформа для исследования живых клеток и длительных серий наблюдений. Гибкая конфигурация поддерживает сложные методы флуоресцентной визуализации.

Прямой исследовательский микроскоп с гибким выбором оптики и автоматизации. Полностью моторизованное исполнение Ni-E предназначено для сложных экспериментов.

Поляризационный микроскоп для минералогии, петрографии и анализа полимеров. Поддерживает ортоскопические и коноскопические наблюдения.

Промышленный микроскоп для инспекции пластин, дисплеев и печатных плат. Модульная оптика и выбор методов контрастирования адаптируют систему к образцу.

Металлографические микроскопы для крупных образцов в отражённом и проходящем свете. Исполнения MX6R, MX8R и MX12R различаются размером предметного столика.

Инспекционный микроскоп для кремниевых пластин и фотошаблонов. Предназначен для визуального контроля микроструктур и дефектов в микроэлектронике.

Инфракрасный микроскоп для неразрушающего осмотра полупроводниковых структур. Ближний ИК-диапазон позволяет исследовать элементы, скрытые в видимом свете.

Конфокальный микроскоп на инвертированной платформе для многоканальной флуоресцентной визуализации. Четыре лазера позволяют получать оптические срезы и 3D-реконструкции.

Конфокальный рамановский микроскоп с эшелле-решёткой для высокого спектрального разрешения. Подходит для исследования напряжений в полупроводниках и 3D-картирования состава.

Цифровой 3D-микроскоп для измерения микрогеометрии и осмотра деталей под разными углами. Наклонная оптическая головка расширяет доступ к сложным поверхностям.

Конфокальный микроскоп на инвертированной платформе для многоканальной флуоресцентной визуализации. Четыре лазера позволяют получать оптические срезы и 3D-реконструкции.