Описание методик

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]

Подробнее

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]

Подробнее

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]

Подробнее

Все методики

Научные результаты на оборудовании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]

Подробнее

Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]

Подробнее
Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы