Новости
Компании и партнеров
«НТ-МДТ» (Нидерланды) и ООО «ЭМТИОН» приняли участие в […]
Подробнее
ООО «ЭМТИОН» и Уральский Федеральный Университет им. первого […]
ПодробнееПосмотреть все новости
Описание методик
Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]
Подробнее
Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]
ПодробнееМногопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]
ПодробнееНаучные результаты на оборудовании
Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.
Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]
Подробнее
Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии
Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]
Подробнее