Найти:
info@mteon.ru
+7 (499) 390-90-81
Каталог
Рентгеновские методы
XRD порошковые
XRD монокристальные
XPS системы
XAFS системы
X-Ray спектроскопия
Опции дифрактометров
Электронные микроскопы
Одноколонные СЭМ
Двухколонные СЭМ
Просвечивающие электронные микроскопы
Опции электронных микроскопов
Пробоподготовка
Метрология поверхности
Стилусные профилометры
Оптические профилометры
Атомно-силовые микроскопы
Комбинация АСМ и Раман
Эллипсометры
Раман | VIS | УФ-спектрометрия
Раман спектрометры
Оптико-эмиссионные спектрометры
УФ-спектрофотометрия
Оптические микроскопы
Инспекционные микроскопы
Конфокальные микроскопы
3D микроскопы
Магнетизм
VSM магнитометры
Kerr микроскопы
PPMS комплексы
Магнитометры
Опции для VSM
ЯМР спектрометры
CAN400 ЯМР спектрометр
CAN600 ЯМР спектрометр
Криосистемы
Безгелиевый криостат растворения DR
Гелиевый криостат серии WR
Проточный безгелиевый криостат серии CR
Литография
Лазерная литография
Электронно-лучевая литография
Наноимпринтная литография
Специализированное оборудование
Системы характеризации полупроводников
Вибрационная защита
Системы активной виброизоляции
Акустическая и виброзащита оборудования
Оптические столы
Напольные стенды
Технологическое оборудование
Магнетронное напыление
Комбинированные системы напыления
Учебные классы и лаборатории по микроэлектронике
Малогабаритные установки
Турбомолекулярные насосы
Магниторазрядные (гетеро-ионные) насосы
Расходные материалы и комплектующие
Кантилеверы
Калибровочные и тестовые образцы
Информация
Новости
Методики
Научные результаты на оборудовании
Загрузки
УСЛУГИ
Контакты
ПРОЕКТЫ
Каталог
Рентгеновские методы
XRD порошковые
XRD монокристальные
XPS системы
XAFS системы
X-Ray спектроскопия
Опции дифрактометров
Электронные микроскопы
Одноколонные СЭМ
Двухколонные СЭМ
Просвечивающие электронные микроскопы
Опции электронных микроскопов
Пробоподготовка
Метрология поверхности
Стилусные профилометры
Оптические профилометры
Атомно-силовые микроскопы
Комбинация АСМ и Раман
Эллипсометры
Раман | VIS | УФ-спектрометрия
Раман спектрометры
Оптико-эмиссионные спектрометры
УФ-спектрофотометрия
Оптические микроскопы
Инспекционные микроскопы
Конфокальные микроскопы
3D микроскопы
Магнетизм
VSM магнитометры
Kerr микроскопы
PPMS комплексы
Магнитометры
Опции для VSM
ЯМР спектрометры
CAN400 ЯМР спектрометр
CAN600 ЯМР спектрометр
Криосистемы
Безгелиевый криостат растворения DR
Гелиевый криостат серии WR
Проточный безгелиевый криостат серии CR
Литография
Лазерная литография
Электронно-лучевая литография
Наноимпринтная литография
Специализированное оборудование
Системы характеризации полупроводников
Вибрационная защита
Системы активной виброизоляции
Акустическая и виброзащита оборудования
Оптические столы
Напольные стенды
Технологическое оборудование
Магнетронное напыление
Комбинированные системы напыления
Учебные классы и лаборатории по микроэлектронике
Малогабаритные установки
Турбомолекулярные насосы
Магниторазрядные (гетеро-ионные) насосы
Расходные материалы и комплектующие
Кантилеверы
Калибровочные и тестовые образцы
Информация
Новости
Методики
Научные результаты на оборудовании
Загрузки
УСЛУГИ
Контакты
ПРОЕКТЫ
Каталог
Главная
Информация
Все загрузки
Фильтры
Категории:
Выбрать...
ЯМР спектрометры
Специализированное оборудование
Криосистемы
Литография
Рентгеновские методы
Магнетизм
Метрология поверхности
Электронные микроскопы
Оптические микроскопы
Раман | VIS | УФ-спектрометрия
Вибрационная защита
Расходные материалы и комплектующие
Технологическое оборудование
HR6000
Скачать
ПЭМ
Скачать
Каталог технологического оборудования ЭМТИОН
Скачать
Общий каталог ЭМТИОН
Скачать
Каталог РФЭС
Скачать
Каталог технологическое оборудование
Скачать
Каталог вибромагнитометры VSM
Скачать
Каталог монокристальный дифрактометр Tongda
Скачать
Каталог порошковые дифрактометры Tongda
Скачать
Каталог профилометры SURFIEW
Скачать
Навигация по записям
1
2
Загрузки
Новости компании и партнеров
Научные результаты на оборудование
О
ставьте заявку
И мы ответим на интересующие Вас вопросы
Согласие на обработку персональных данных
Оставьте заявку
И мы ответим на интересующие Вас вопросы
Согласие на обработку персональных данных
Спасибо за заявку
Наши менеджеры свяжутся с Вами, как только обработают Ваш запрос
Вернуться на главную