Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]
Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]
Принцип магнитно-силовой микроскопии основан на регистрации взаимодействия между образцом […]
Информация, получаемая в процессе облучения электронами. Электронная микроскопия (сканирующая […]
Многие производственные изделия требуют покрытия определенными материалами для придания […]
Одним из наиболее распространенных материалов, используемых в качестве проводника, […]
Согласие на обработку персональных данных