Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]

Принцип магнитно-силовой микроскопии основан на регистрации взаимодействия между образцом […]

Информация, получаемая в процессе облучения электронами. Электронная микроскопия (сканирующая […]

Многие производственные изделия требуют покрытия определенными материалами для придания […]

Одним из наиболее распространенных материалов, используемых в качестве проводника, […]