XPS150-ESCA
Гибкая конфигурация XPS под задачу и вакуумное соединение с MBE, ARPES и перчаточным боксом.[...]
Запрос цены ПодробнееГибкая конфигурация XPS под задачу и вакуумное соединение с MBE, ARPES и перчаточным боксом.[...]
XPS-X5
Автоматизированный серийный XPS-анализ: микропятно 10–400 мкм, картирование и кластерное профилирование.[...]
Запрос цены ПодробнееАвтоматизированный серийный XPS-анализ: микропятно 10–400 мкм, картирование и кластерное профилирование.[...]
XPS-X7
XPS-анализ поверхности прямо в газовой среде при давлении до 25 мбар для исследований реакций in situ.[...]
Запрос цены ПодробнееXPS-анализ поверхности прямо в газовой среде при давлении до 25 мбар для исследований реакций in situ.[...]
ARPES-A5
Высокоразрешающая ARPES: разрешение анализатора ≤1,8 мэВ, охлаждение до 4 К в оптимизированном исполнении.[...]
Запрос цены ПодробнееВысокоразрешающая ARPES: разрешение анализатора ≤1,8 мэВ, охлаждение до 4 К в оптимизированном исполнении.[...]
ARPES-A7
Импульсный микроскоп: выбор микроучастка поверхности и переключение между PEEM, MM-ARPES и μ-ARPES.[...]
Запрос цены ПодробнееИмпульсный микроскоп: выбор микроучастка поверхности и переключение между PEEM, MM-ARPES и μ-ARPES.[...]
