Методики измерения. ЭМТИОН . АСМ и электронная микроскопия
Фильтры
Основные понятия и характеристики спектрального прибора

Дифракционная решетка   В спектральных приборах для пространственного разложения […]

Подробнее

Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением

  Регистрация электронов валентной зоны, эмитируемых в результате УФ-облучения […]

Подробнее

Современные подходы к улучшению разрешения в растровой электронной микроскопии (РЭМ)

Изображение растрового электронного микроскопа (РЭМ) на экране монитора формируется […]

Подробнее

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия – КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]

Подробнее

Рентгеновские трубки – основы работы

      В рентгеновской трубке для лабораторных исследований […]

Подробнее

CARS спектроскопия

Современная нелинейная спектроскопия, кроме информации о новых нелинейных параметрах вещества, […]

Подробнее

Краткие основы растровой электронной микроскопии (РЭМ)

Информация, получаемая в процессе облучения электронами   Электронная микроскопия […]

Подробнее

Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]

Подробнее

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]

Подробнее

РФЭС и УФЭС при атмосферном давлении

  Рентгеновская (XPS) и ультрафиолетовая (UPS) фотоэлектронная спектроскопия хорошо […]

Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы