На основе экспериментальных данных и теоретического анализа предложен […]
Подробнее
В антиферромагнитном (АФМ) состоянии TbTi₃Bi₄ (T < Tₙ₁) […]
Подробнее
В данной работе исследована взаимосвязь кристаллической структуры, магнитного […]
Подробнее
Анализ текстур — метод исследования текстурных свойств объектов, […]
Подробнее
Работа с сканирующим электронным микроскопом (СЭМ) требует не […]
Подробнее
Фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС, или PES) – это метод […]
Подробнее
В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]
Подробнее
Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]
Подробнее
Дифракционная решетка В спектральных приборах для пространственного разложения […]
Подробнее
Регистрация фотоэлектронов из валентной зоны при облучении поверхности […]
Подробнее
.png)