Фильтры
Основные понятия и характеристики спектрального прибора
Дифракционная решетка В спектральных приборах для пространственного разложения […]
Подробнее
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением
Регистрация фотоэлектронов из валентной зоны при облучении поверхности […]
Подробнее
Современные подходы к улучшению разрешения в растровой электронной микроскопии (РЭМ)
Изображение растрового электронного микроскопа (РЭМ) на экране монитора формируется […]
Подробнее
Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия – КЗЭМ
Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]
Подробнее
Рентгеновские трубки – основы работы
В рентгеновской трубке для лабораторных исследований источником электронов […]
Подробнее
CARS спектроскопия
Современная нелинейная спектроскопия, кроме информации о новых нелинейных параметрах вещества, […]
Подробнее
Краткие основы растровой электронной микроскопии (РЭМ)
Информация, получаемая в процессе облучения электронами Электронная микроскопия […]
Подробнее
Метод отображения Фазы АСМ
Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]
Подробнее
Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)
Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]
Подробнее
РФЭС и УФЭС при атмосферном давлении
Рентгеновская (РФЭС, XPS — X-ray Photoelectron Spectroscopy) и […]
Подробнее
.png)