Фильтры
Электронная Оже-спектроскопия и микроскопия
Оже-электронная спектроскопия — ОЭС (AES, Auger Electron Spectroscopy) […]
Подробнее
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и спектроскопия с угловым разрешением, профиль распределения
Рентгеновская (РФЭС, XPS — X-ray Photoelectron Spectroscopy) и […]
Подробнее
Жесткая рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — РФЭС (XPS, X-ray Photoelectron […]
Подробнее
РФЭС и карта химического состава поверхности
Рентгеновская (РФЭС, XPS — X-ray Photoelectron Spectroscopy) и […]
Подробнее
Компенсация заряда
При анализе непроводящих образцов методами электронной спектроскопии (РФЭС, […]
Подробнее
Атомно-силовая Акустическая Микроскопия
Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]
Подробнее
Устройство растрового электронного микроскопа (РЭМ)
Конструкция оборудования В состав растрового электронного микроскопа входят […]
Подробнее
Магнитная литография и визуализация.
Принцип магнитно-силовой микроскопии основан на регистрации взаимодействия между образцом […]
Подробнее
Микроскопия пьезоотклика (АСМ)
Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]
Подробнее
.png)