Фильтры
Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и спектроскопия с угловым разрешением, профиль распределения
Методы рентгеновской (XPS1) и ультрафиолетовой (UPS2) фотоэлектронной спектроскопии […]
Подробнее
Жесткая рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS*) относится к мощным методам […]
Подробнее
РФЭС и карта химического состава поверхности
Методы рентгеновской (XPS*) и ультрафиолетовой (UPS**) фотоэлектронной спектроскопии […]
Подробнее
Компенсация заряда
Выполнение операций электронной спектроскопии на непроводящем образце или […]
Подробнее
Атомно-силовая Акустическая Микроскопия
Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]
Подробнее
Устройство растрового электронного микроскопа (РЭМ)
Конструкция оборудования В состав растрового электронного микроскопа входят […]
Подробнее
Магнитная литография и визуализация.
Принцип магнитно-силовой микроскопии основан на регистрации взаимодействия между образцом […]
Подробнее
Микроскопия пьезоотклика (АСМ)
Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]
Подробнее
.png)