Поверхность образца по технологии (R)EELS* подвергается воздействию генерируемых источником первичных электронов с энергией в несколько кВ, которые далее неупруго рассеиваются при возбуждении фононов, плазмонов, внутренних энергетических уровней и межзонных переходах.
 |
Регистрация осуществляется электронным анализатором. Коль скоро фононы не обнаружены, в спектре энергетических потерь доминирует возбуждение плазмонов, внутренних уровней и межзонные переходы, и в целом содержится подробная информация об электронной структуре, а также о плотности носителей заряда.
На нашем сайте вы можете ознакомиться с доступными к заказу РФЭС решениями (XPS, NAP XPS и другое): оборудование рентгеновской фотоэлектронной спектрометрии.
*«(R)EELS» (Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy) – спектроскопия характеристических потерь энергии отражённых электронов (СХПЭОЭ).
.png)