Атомно-силовые микроскопы - ЭМТИОН
Опции для АСМ NTEGRA
  • Внешнее магнитное поле
  • Электроника нового поколения
  • Модуль магнитооптики высокого разрешения
  • Модуль измерений в вакууме
  • Модуль нагрева образцов
  • Модуль измерений в жидкости
  • Оптическая головка нового поколения
  • Модуль раман спектрометра для АСМ
NTEGRA. Открытая АСМ платформа
  • NTEGRA PRIMA - многофункциональный прибор с открытой платформой для выполнения большинства современных задач в области атомно-силовой микроскопии
  • NTEGRA MFM - АСМ ориентированный на измерение магнитных характеристик образцов во внешнем магнитном поле
  • NTEGRA AURA - АСМ для измерений в вакууме и контролируемой атмосфере.
  • NTEGRA ACADEMIA - АСМ для выполнения школьниками и студентами проектов по направлению нанотехнологии
SPECTRA. Комбинация АСМ и Раман
  • Spectra Upright - комбинация АСМ и Раман спектрометра для изучения непрозрачных образцов
  • Spectra Inverted - комбинация АСМ и Раман спектрометра для изучения прозрачных образцов
  • Spectra Full - глубокая интеграция АСМ и Раман спектрометра с возможностью засветки образца с снизу/сверху/сбоку
SNOM. Ближнепольная оптическая микроскопия.
  • SNOM с оптоволоконной головкой
  • SNOM на апертурных кантилеверах
  • SNOM безапертурный

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы