Расходные материалы и комплектующие - ЭМТИОН
Подложки
  • Сапфировые (поликор) подложки
  • Подложки слюды
Калибровочные и тестовые образцы
  • Калибровка кантилеверов и сканера АСМ
  • Тестовые образцы PFM
  • Тестовые образцы MFM
Кантилеверы
  • Полуконтактные
  • Контактные
  • Проводящие
  • Магнитные
  • Волоконные
  • Наборы кантилеверов

Описание методик

Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Магнитная литография и визуализация.

Принцип магнитно-силовой микроскопии основан на регистрации взаимодействия между образцом […]


Магнито-оптика высокого разрешения

Магнито-оптика является надежным и широко применяемым методом для исследования […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы