TGZ1 - ЭМТИОН АСМ, калибровка, мера, расходники для АСМ
TGZ1

TipsNano

Калибровочная решетка ось: Z

Описание TGZ1

Калибровочная решетка TGZ1 для вертикальной калибровки (высота ступенек  20±2нм) и нелинейных измерений.

 

TGS1_pic.jpg

 

 

Высота ступеньки — среднее значение, основанное на измерениях 5 решеток из партии в 300 штук. Тестирование проводится на АСМ, откалиброванном решеткой TGZ1, сертифицированной в PTB.  Основное значение высоты ступени может изменяться в пределах партии на 10%  от значения, данного в спецификации.

 

TGZ2_6.jpg
АСМ изображение решетки TGZ2  (высота ступени 110нм).

 

Подходит для атомно-силовых микроскоп в том числе серии NTEGRA, SPECTRA и других.

Магазин расходных материалов можно посетить здесь

Может быть полезно:

SU001

Набор из 10 поликоровых прямоугольных  подложек, размер  24 x 19,3 x […]

Запрос цены Подробнее
TGT1

Калибровочная решетка  TGT1 предназначена для: определение остроты и формы […]

Запрос цены Подробнее
Полуконтактные кантилеверы

NSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии NSG01 предназначены для […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы