TESCAN MAIA3

TESCAN MAIA3 - Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп сверх-высокого разрешения FEG S

Запрос цены Подробнее
TESCAN MIRA3

TESCAN MIRA3 - Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп FEG SEM с катодом с полевой эмисс

Запрос цены Подробнее
TESCAN VEGA

TESCAN VEGA - Полностью управляемый с компьютера сканирующий электронный микроскоп с классическим вольфрамовым т

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Полуконтактный АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Многопроходные Методики

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы