Системы дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
ООО "Эмтион"
EBSD детектор
Описание Системы дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Детектор обратно отражённых электронов EBSD позволяет получить данные о кристаллографической ориентации, необходимой для понимания взаимосвязи между микроструктурой и исследуемыми свойствами образца. Устройство применяется в R&D области при анализе процессов, а также в промышленных целях для контроля качества образца.
| CMOS камера | Высоко скоростная с низким уровнем шума, разрешение 1244*1024, скорость 400pps |
| Минимальный рабочий ток | 100 пА |
| Минимальное рабочее напряжение | 5кВ |
| Точность ориентации | ниже 0,05° |
| Разрешение шаблона | 312*256 пикселей (на максимальной скорости детектирования) |
| Генератор сканирования | наличие |
| Программное обеспечение | совмещенное ПО с EDS/EBSD |
Каталог электронная микроскопия
ЗагрузитьМожет быть полезно:
Модуль атомно-силовой микроскопии для РЭМ
СЭМ KyKy имеет возможность непрерывного увеличения изображения, при этом […]
Запрос цены ПодробнееСистемы энергодисперсионного микроанализа (EDS)
Энергодисперсионная спектроскопия EDS (система микроанализа) обеспечивает возможность проведения элементного […]
Запрос цены Подробнее
