MS750 Монохроматоры-спектрографы - ЭМТИОН
MS750 Монохроматоры-спектрографы

SOL Instruments

MS750 – длиннофокусные спектральные приборы, предназначенные для решения спектроскопических задач, требующих высокой разрешающей способности и точности

Описание MS750 Монохроматоры-спектрографы
Монохроматоры-спектрографы серии MS750 – длиннофокусные спектральные приборы, предназначенные для решения спектроскопических задач, требующих высокой разрешающей способности и точности. Это полностью автоматизированные спектральные приборы с фокусным расстоянием 750мм и относительным отверстием 1/8.9, которые могут быть использованы в качестве монохроматоров или спектрографов с большим плоским фокальным полем.

Высококачественная оптика и большой выбор дифракционных решеток обеспечивают работу Монохроматоров-спектрографов серии MS750 в широком спектральном диапазоне от 185 нм до 60 мкм (в зависимости от выбранной решётки) с непревзойдённым спектральным разрешением.

Монохроматоры-спектрографы серии MS750 построены по схеме Черни-Тернера, что позволяет минимизировать аберрации и исключить переотражения спектров от дифракционных решеток и зеркал.

 

В моделях MS7501i и MS7504i скорректирован астигматизмблагодаря применению специальной оптики, что позволяет использовать эти приборы в многоканальной спектроскопии.

Автоматизированная турель для установки четырёх дифракционных решеток (модели MS7504 и MS7504i) обеспечивает быстрое переключение решеток с высокой воспроизводимостью длины волны. В моделях MS7501 и MS7501i используется однопозиционный держатель, который позволяет легко сменять решетки вручную. Большой выбор сменных решёток позволяет получить наилучшее сочетание высокой энергетической эффективности и максимального спектрального разрешения для различных областей спектра.

 

Монохроматоры-спектрографы серии MS750 имеют один входной и два выходных порта. Выбор выходного порта осуществляется с помощью поворотного зеркала. На вертикальный выходной порт может быть установлена как выходная щель, так и многоканальный детектор. На боковой порт может быть установлена только выходная щель.

Экстремально высокое спектральное разрешение – лучше 0,02 нм для решётки 1200штр/мм, делают Монохроматоры-спектрографы серии MS750 идеальными приборами для спектроскопии высокого разрешения: Рамановской спектроскопии, атомно-эмиссионной спектроскопии, а также в многоканальной спектроскопии – модели MS7501i и MS7504i, обеспечивающие чрезвычайно высокое пространственное разрешение во высоте входной щели.

 

Модели монохроматоров-спектрографов серии MS750

 

MS7501 MS7501i MS7504 MS7504i
Дифракционный узел Однопозиционный
держатель для сменяемых вручную решёток
Однопозиционный
держатель для сменяемых вручную решёток
Турель с возможностью установки до 4 решеток Турель с возможностью установки до 4 решеток
Оптика  Стандартная с компенсацией астигматизма Стандартная с компенсацией астигматизма

В приборах со стандартной оптикой (модификации MS7501 и M7504) используется плоское входное зеркало; в приборах с компенсацией астигматизма (модификации MS7501i и MS7504i) — цилиндрическое.

Как и во всех спектральных приборах, построенных по схеме Черни-Тернера, в Монохроматорах-Спектрографах серии MS750 ось вращения дифракционной решётки проходит через центр рабочей поверхности решётки и совпадает с направлением штрихов. Это обеспечивает постоянство геометрии пучков для формирования плоского и фиксированногофокального поля(при перестройке по длинам волн оно не смещается). Качество изображения во всём плоском фокальном поле оптимизировано за счёт использования оптической схемы с малыми углами падения лучей на камерное и коллиматорное зеркало, а также а счёт использования камерного и коллиматорного зеркал с одинаковым фокусным расстоянием. Кроме того, применение фокусирующего (камерного) зеркала большого размера позволяет использовать всю ширину фокального поля без виньетирования.

В моделях MS7504 и MS7504i ось турели расположена перпендикулярно оси сканирования по спектру, что обеспечивает высокую воспроизводимость установки заданной длины волны при переключении решёток.

Оптическая система

Оптическая схема: Черни-Тернера (модели MS7501i, MS7504i –
с компенсацией астигматизма)
Порты: 1 входной, 2 выходных
Диапазон длин волн: 185 нм — 60 мкм (определяется используемыми решетками)
Относительное отверстие (по входу): 1/8.9
Фокусное расстояние (выходное): 750 мм
Диапазон сканирования, ограниченный углом разворота решётки: 0 — 1270 нм (для решётки 1200 штр/мм)
Основные зеркала: сферические
Рассеянный свет: 5.5 х 10-7 (на расстоянии 20 нм
от линии лазера 632.8 нм)
Фокальная плоскость: 28 х 10 мм

 

Используемая в приборах оптическая схема оптимизирована для:

  • минимизации комы во всём рабочем спектральном диапазоне
  • исключения переотражения света от двух основных зеркал
  • исключения переотражения света между зеркалами прибора и
    входными окнами детекторов, установленных в фокальной плоскости
  • обеспечения большого плоского фокального поля для всего
    рабочего спектрального диапазона
  • обеспечения компенсации астигматизма для всего рабочего
    спектрального диапазона с использованием специальной
    корректирующей оптики (для imaging модификаций MS7504i и MS7501i)

*Компенсация астигматизма

*Горизонтальное увеличение: 1.05
*Вертикальное увеличение: 1.125
*Остаточный астигматизм: <15 мкм

* Характеристики приведены для моделей с компенсацией астигматизма: MS7501i, MS7504i

Спектральное изображение Увеличенное спектральное изображение

Изображение, полученное на монохроматоре-спектографе MS7504i (дифракционная решетка 1800 штр/мм,
источник излучения — ртутно-гелиевая лампа, размер пикселя ПЗС камеры 24х24 мкм).
 

 Механизм развертки по спектру

Двигатель: шаговый, с дроблением шага
Механизм: синусный
Единичный шаг: 0.22 угловые секунды
Точность установки: ± 1 шаг
Макс. скорость: 10000 шагов/с

**Оптические характеристики

Тип решетки: 1200 штр/мм,
λ = 546 нм
Эшелле, 75 штр/мм,
λ = 200 нм,
120-й порядок
Обратная линейная дисперсия: 1.02 нм/мм 0.055 нм/мм
Спектральное разрешение:
— ФЭУ, ширина входной щели 10 μм 0.015 нм 0.0008 нм
— Цифровая камера, 12 μм пиксел, ширина входной щели 15 μм 0.02 нм 0.0011 нм
Воспроизводимость: ± 0.007 нм ± 0.0009 нм
Точность установки длины волны: ± 0.034 нм ± 0.0045 нм
Средний шаг сканирования: 0.0017 нм
Шаг сканирования на 200 нм: 2.25 х 10-4 нм

** Характеристики приведены для решетки 1200 штр/мм, ширине щели 15 мкм, длина волны — 546 нм

Решетки

Размер решетки: 80 х 70 х 10 мм
Способ вращения решетки: относительно центра нарезного участка решетки
Крепление решеток: 1. Автоматизированная четырёхпозиционная турель (модели MS7504, MS7504i)

2. Держатель на одну сменяемую вручную решетку (модели MS7501 и MS7501i)

Воспроизводимость позиционирования решетки
для автоматизированной четырёхпозиционной турели
(модели MS7504, MS7504i):
— по длине волны: ± 0.03 нм
— по вертикальному положению изображения: ± 50 мкм
Воспроизводимость позиционирования решетки
для держателя на одну сменяемую вручную решетку
(модели MS7501, MS7501i):
— по длине волны: ± 0.05 нм
— по вертикальному положению изображения: ± 75 мкм

Порты

Количество: 1 входной, 2 выходных
Воспроизводимость выбора выходного порта (автоматизированное зеркало): ± 0.01 нм
Время смены выходного порта: 10 сек

Спектральные щели

Управление шириной щели: автоматическое (шаговый привод) либо вручную (микровинт)
Ширина раскрытия щели: плавно регулируемая от 0 до 2.0 мм
Параллельность ножей: ± 1 мкм
Точность (при ширине щели 1 мм): ± 10 мкм
Воспроизводимость: ± 1 мкм (± 1.5 мкм — ручная щель)
Цена деления микровинта: 2 мкм
Единичный шаг: 0.5 мкм
Высота щели: от 0 до 10 мм – регулируется диафрагмой

Встроенный затвор

Время перекрытия: ~ 100 мс
Максимальная частота: 1 Гц
Управление: Программно от встроенного контроллера прибора или
TTL-сигналами от внешнего устройства

Управление

Общее управление: от встроенного контроллера
Внешнее управление: от персонального компьютера
Интерфейс связи с компьютером: Ethernet

Габаритные размеры

Габаритные размеры (Д х Ш х В): 950 х 361 х 343 мм
Вес: 45 кг (может незначительно отличаться в зависимости от комплектации)

 

 

Монохроматор-спектрограф серии MS750

Может быть полезно:

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы