ИК-Фурье спектрометры
  • ФТ-801 ИК фурье-спектрометр ближней и средней ИК области
  • ФТ-805 ИК фурье-спектрометр с интегрированными приставками и двумя детекторами
ИК-Микроскопы
  • МИКРАН-2 широкодиапазонный ИК микроскоп
  • МИКРАН-3 широкодиапазонный ИК микроскоп

Описание методик

Полуконтактный АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Многопроходные Методики

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы