Методики измерения. ЭМТИОН . АСМ и электронная микроскопия
Фильтры
Резонанс плоских зон в CsCr₆Sb₆: спиновые флуктуации кагоме-решётки как движущий механизм

  Впервые получено прямое спектроскопическое свидетельство резонанса плоских зон […]

Подробнее

Анализ текстур методом рентгеновской дифрактометрии

  Анализ текстур — метод исследования текстурных свойств объектов, […]

Подробнее

Алгоритм работы с ЭДС в СЭМ

  Работа с сканирующим электронным микроскопом (СЭМ) требует не […]

Подробнее

Применение и различия методов XPS и ARPES в материаловедении

  Фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС, или PES) – это метод […]

Подробнее

Методы измерения металлических загрязнений в производстве полупроводников

  В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]

Подробнее

Спектрофотометрия в химическом анализе

  Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]

Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы