Фильтры
Анализ текстур методом рентгеновской дифрактометрии
Анализ текстур — метод исследования текстурных свойств объектов, […]
Подробнее
Алгоритм работы с ЭДС в СЭМ
Работа с сканирующим электронным микроскопом (СЭМ) требует не […]
Подробнее
Применение и различия методов XPS и ARPES в материаловедении
Фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС, или PES) – это метод […]
Подробнее
Методы измерения металлических загрязнений в производстве полупроводников
В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]
Подробнее
Спектрофотометрия в химическом анализе
Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]
Подробнее
Основные понятия и характеристики спектрального прибора
Дифракционная решетка В спектральных приборах для пространственного разложения […]
Подробнее
Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением
Регистрация электронов валентной зоны, эмитируемых в результате УФ-облучения […]
Подробнее
Современные подходы к улучшению разрешения в растровой электронной микроскопии (РЭМ)
Изображение растрового электронного микроскопа (РЭМ) на экране монитора формируется […]
Подробнее
Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия – КЗЭМ
Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]
Подробнее
Рентгеновские трубки – основы работы
В рентгеновской трубке для лабораторных исследований источником электронов […]
Подробнее
.png)