В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]

  Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]

Дифракционная решетка   В спектральных приборах для пространственного разложения […]

  Регистрация электронов валентной зоны, эмитируемых в результате УФ-облучения […]

Изображение растрового электронного микроскопа (РЭМ) на экране монитора формируется […]

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]

      В рентгеновской трубке для лабораторных исследований […]

Современная нелинейная спектроскопия, кроме информации о новых нелинейных параметрах вещества, […]

Информация, получаемая в процессе облучения электронами   Электронная микроскопия […]

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]