Архивы атомно-силовая микроскопия - ЭМТИОН

Конференция — XXVIII Российская конференция по электронной микроскопии.

 

 

ЭМТИОН и группа компаний НТ-МДТ — серебряные спонсоры XXVIII Российской конференции по электронной микроскопии, приглашают принять участие в конференции и посетить стенд Компании. Мероприятие пройдет с 5го по 10ое сентября 2020г в г.  Черноголовка. Конференция освещает современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарные методы в исследованиях наноструктур и наноматериалов. Мероприятие является одним из крупнейших международных событий в области электронной и зондовой микроскопии в РФ. Мы будем рады познакомить посетителей с новейшими разработками компании в области зондовой микроскопии.

 

 

 

 

Более подробную информацию можно найти по ссылке

Вебинар — Биомолекулярный анализ органелл живых клеток с помощью рамановской микроскопии

 

 

ЭМТИОН приглашает посетить вебинар на тему «Биомолекулярный анализ органелл живых клеток с помощью рамановской микроскопии» (Сол Инструментс). Современный уровень методов рамановской микроскопии и спектрального анализа открывает новые перспективы в клеточной биологии для изучения динамики на субклеточном уровне. Модернизация рамановского микроскопа с установкой программного обеспечения биомолекулярного анализа (БКА) позволила измерить концентрацию неразделенного класса биомолекул на уровне органелл в живой клетке в объеме около 1 кубического микрона. А для класса липидов-определить параметры, относящиеся к элементам липидомики. Таким образом, в настоящее время в группе дисциплин Омикс формируется новая биоэтика – Раманомика. Несмотря на большую неоднородность биомолекулярного состава органелл, Раманомика позволяет выявить закономерности процессов, происходящих в клетках.

 

Дата проведения: 25 сентября 2020 года
Время: 17.00 (мск)
Докладчик: Андрей Кузьмин, кандидат технических наук (Институт лазеров, фотоники и биофотоники Государственного Университета Нью-Йорка).
Язык: Английский
Пожалуйста, заполните форму для регистрации – https://bca.solinstruments.com/webinar/
Ссылка на вебинар будет выслана в день проведения вебинара.

 

 

 

 

Более подробную информацию можно найти по ссылке

Международная конференция по зондово-усиленной рамановской спектроскопии (TERS-7)

 

 

ЭМТИОН приглашает посетить стенд компании NT-MDT на 7-ой Международной конференции по зондово-усиленной рамановской спектроскопии (TERS-7), которая будет проходить с 9 по 12 ноября 2019 года в кампусе университета Сяоминь, г. Сяоминь, Китай. Цель конференции TERS-7 — собрать вместе представителей научных и промышленных организаций, чтобы представить и обсудить их последние результаты и перспективы развития TERS методики. Конференция TERS стартовала в национальной физической лаборатории (NPL) в Великобритании в 2009 году. С тех пор она привлекает все большее число ученых со всего мира и проводилась в NPL (Великобритания, 2011), ETH (Швейцария, 2013), Рио-де-Жанейро (Бразилия, 2014 г.), Осака (Япония, 2015 г.) и NIST (США, 2017 г. ). На TERS-7 будут рассмотрены как фундаментальные, так и прикладные аспекты применения TERS, с особым упором на пространственное разрешение и возможность интеграции с другими методами нано-спектроскопий.

 

 

 

 

Более подробную информацию можно найти по ссылке

Юбилейный европейско-средиземноморский симпозиум по лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии

 

На правах золотого спонсора мероприятия компания «СОЛ инструментс», мировой лидер по производству Раман микроскопов и спектрометров, приглашает вас посетить 10-ый юбилейный Европейско-средиземноморский симпозиум по лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии (EMSLIBS 2019), который будет проходить с 8 по 13 сентября в Брно, Чехии.

 

Традиционно симпозиум проводится каждые два года, начиная с 2001 г. Научные сессии будут разделены на следующие темы: основы плазмы, био-применения, анализ жидкостей, калибровка и количественная оценка, обработка данных и хемометрика, археология, геология и горное дело, переносные системы, промышленные применения, наночастицы, картографирование и перспективные применения.

 

Вы также сможете послушать доклад на тему “Двухимпульсный LIBS спектрометр LEA-S500 для количественного анализа материалов различного происхождения”, ведущего специалиста атомно-эмиссионного сектора “СОЛ инструментс” Дубовского В.Л., посетить стенд компании и задать интересующие Вас вопросы.

 

Место проведения конференции: Масариков университет, факультет социальных наук (г. Брно, Jostova 218/10)

 

Больше информации доступно по ссылке

 

7-ой Евро-Азиатский симпозиум «Тренды в магнетизме» (EASTMAG2019)

 

ЭМТИОН стал партнером EASTMAG2019. 8-13 сентября в г. Екатеринбурге на базе Института физики металлов им. М.Н. Михеева пройдет «7-ой Евро-Азиатский симпозиум «Тренды в магнетизме» (EASTMAG2019). EASTMAG2019 станет крупнейшим событием года, объединяющим специалистов в области магнетизма и магнитных материалов.

 

Мы приглашаем всех желающих посетить стенд ЭМТИОН и ознакомиться с новейшими возможностями атомно-силовых микроскопов и приборов на их основе для исследования магнитной доменной структуры образцов, а так же их топографии и других физико-химических свойств с высоким пространственным разрешением.

 

На стенде будет представлена новейшая модификация многофункционального АСМ NTEGRA производства компании NT-MDT, все желающие смогут ознакомиться с работой оборудования на примере как тестовых образцов так и образцов предоставленных посетителями симпозиума.

 

Больше информации доступно по ссылке

 

Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. Одни из наиболее ранних экспериментальных реализаций амплитудно-модуляционной АСМ  были представлены в работах [2, 3]. В них было продемонстрировано влияние градиентов сил на сдвиг резонансной частоты кантилевера и возможность бесконтактного сканирования поверхности образца. Необходимо отметить также, что ранее  Дюриг изучал частотный сдвиг колеблющегося кантилевера в силовом поле иглы СТМ [4].

 

В работе [2] была продемонстрирована также возможность зондирования материалов при резком уменьшении амплитуды колебаний кантилевера. Возможность сканирования поверхности образца не только в притягивающих, но и в отталкивающих силах была продемонстрирована в [4]. Относительно слабый сдвиг частоты колебаний под влиянием отталкивающих сил означает, что контакт зонда с поверхностью образца в процессе колебаний не является постоянным. Только в течение короткой части периода колебаний зонд «ощущает» контактные отталкивающие силы. Особенно это касается колебаний с большой амплитудой. Сканирование поверхности образца с колеблющимся таким образом кантилевером является не бесконтактным, а скорее прерывисто-контактным. Соответствующий метод Сканирующей Зондовой Микроскопии (Прерывисто-контактный или «Полуконтактный»  Метод) довольно часто используется на практике. «Ощущение» контактных отталкивающих сил в процессе сканирования приводит к дополнительному фазовому сдвигу колебаний кантилевера относительно возбуждающих колебаний пьезовибратора.

 

При проведении магнитных исследований на субмикронном уровне прежде всего необходимо отделить «магнитные» изображения от изображений рельефа. Для решения этой проблемы магнитные измерения проводятся по двухпроходной методике. На первом проходе определяется рельеф поверхности по Контактному или Прерывисто-контактному («полуконтактному») методам. а втором проходе каждой линии сканирования (или изображения  в целом) кантилевер приподнимается над поверхностью и сканирование осуществляется в соответствии с запомненным рельефом. В результате на втором проходе расстояние между  сканируемой поверхностью и закрепленным  концом кантилевера поддерживается постоянным. При этом расстояние зонд-поверхность должно быть достаточно большим, чтобы пренебречь силами Ван-дер-Ваальса, так что на втором проходе кантилевер подвергается воздействию только дальнодействующей магнитной силы.  В соответствии с этим методом и изображение рельефа и магнитное изображение могут быть получены одновременно.

 

Этот фазовый сдвиг зависит от характеристик материала образца. Регистрация и отображение фазового сдвига   в процессе сканирования (метод Отображения Фазового Контраста) широко используется в исследованиях наноструктурированных и неоднородных материалов. Подобно Контактному Методу Рассогласования «Полуконтактный»  Метод Рассогласования для подчеркивания малоразмерных неоднородностей на больших площадях.

 

 

Прерывисто-контактный Метод  обладает определенными преимуществами по сравнению Контактными методами. Прежде всего, при использовании этого метода давление кантилевера на поверхность образца существенно меньше, что позволяет работать с более мягкими и легко разрушающимися материалами, такими как полимеры и биоматериалы. «Полуконтактный» Метод  также более чувствителен к  различным взаимодействиям с поверхностью, что дает возможность ряд характеристик поверхности – распределение вязкости и упругости, электрических и магнитных доменов.

Ссылки

    1. US Pat. 4724318.
    2. J. Appl. Phys. 61, 4723 (1987).
    3. Appl. Phys. Lett. 53, 2400 (1988). 
    4. Phys. Rev. Lett. 57, 2403 (1986).

Spring Meeting of the European Materials Research Society

 

«НТ-МДТ»  приняла участие в Spring Meeting of the European Materials Research Society-2019, которое проходило с 27 по 31 мая 2019 года в г. Ницце. На своем стенде НТ-МДТ продемонстрировала новейшие разработки в области атомно-силовой микроскопии и ее комбинации и с современными оптическими методиками: СНОМ, Раман и др.

 

Больше информации доступно по ссылке