Архивы атомно-силовая микроскопия - ЭМТИОН

Юбилейный европейско-средиземноморский симпозиум по лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии

 

На правах золотого спонсора мероприятия компания «СОЛ инструментс», мировой лидер по производству Раман микроскопов и спектрометров, приглашает вас посетить 10-ый юбилейный Европейско-средиземноморский симпозиум по лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии (EMSLIBS 2019), который будет проходить с 8 по 13 сентября в Брно, Чехии.

 

Традиционно симпозиум проводится каждые два года, начиная с 2001 г. Научные сессии будут разделены на следующие темы: основы плазмы, био-применения, анализ жидкостей, калибровка и количественная оценка, обработка данных и хемометрика, археология, геология и горное дело, переносные системы, промышленные применения, наночастицы, картографирование и перспективные применения.

 

Вы также сможете послушать доклад на тему “Двухимпульсный LIBS спектрометр LEA-S500 для количественного анализа материалов различного происхождения”, ведущего специалиста атомно-эмиссионного сектора “СОЛ инструментс” Дубовского В.Л., посетить стенд компании и задать интересующие Вас вопросы.

 

Место проведения конференции: Масариков университет, факультет социальных наук (г.Брно, Jostova 218/10)

 

Больше информации доступно по ссылке

 

7-ой Евро-Азиатский симпозиум «Тренды в магнетизме» (EASTMAG2019)

 

ЭМТИОН стал партнером EASTMAG2019. 8-13 сентября в г. Екатеринбурге на базе Института физики металлов им. М.Н. Михеева пройдет «7-ой Евро-Азиатский симпозиум «Тренды в магнетизме» (EASTMAG2019). EASTMAG2019 станет крупнейшим событием года, объединяющим специалистов в области магнетизма и магнитных материалов.

 

Мы приглашаем всех желающих посетить стенд ЭМТИОН и ознакомиться с новейшими возможностями атомно-силовых микроскопов и приборов на их основе для исследования магнитной доменной структуры образцов, а так же их топографии и других физико-химических свойств с высоким пространственным разрешением.

 

На стенде будет представлена новейшая модификация многофункционального АСМ NTEGRA производства компании NT-MDT, все желающие смогут ознакомиться с работой оборудования на примере как тестовых образцов так и образцов предоставленных посетителями симпозиума.

 

Больше информации доступно по ссылке

 

Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. Одни из наиболее ранних экспериментальных реализаций амплитудно-модуляционной АСМ  были представлены в работах [2, 3]. В них было продемонстрировано влияние градиентов сил на сдвиг резонансной частоты кантилевера и возможность бесконтактного сканирования поверхности образца. Необходимо отметить также, что ранее  Дюриг изучал частотный сдвиг колеблющегося кантилевера в силовом поле иглы СТМ [4].

 

В работе [2] была продемонстрирована также возможность зондирования материалов при резком уменьшении амплитуды колебаний кантилевера. Возможность сканирования поверхности образца не только в притягивающих, но и в отталкивающих силах была продемонстрирована в [4]. Относительно слабый сдвиг частоты колебаний под влиянием отталкивающих сил означает, что контакт зонда с поверхностью образца в процессе колебаний не является постоянным. Только в течение короткой части периода колебаний зонд «ощущает» контактные отталкивающие силы. Особенно это касается колебаний с большой амплитудой. Сканирование поверхности образца с колеблющимся таким образом кантилевером является не бесконтактным, а скорее прерывисто-контактным. Соответствующий метод Сканирующей Зондовой Микроскопии (Прерывисто-контактный или «Полуконтактный»  Метод) довольно часто используется на практике. «Ощущение» контактных отталкивающих сил в процессе сканирования приводит к дополнительному фазовому сдвигу колебаний кантилевера относительно возбуждающих колебаний пьезовибратора.

 

При проведении магнитных исследований на субмикронном уровне прежде всего необходимо отделить «магнитные» изображения от изображений рельефа. Для решения этой проблемы магнитные измерения проводятся по двухпроходной методике. На первом проходе определяется рельеф поверхности по Контактному или Прерывисто-контактному («полуконтактному») методам. а втором проходе каждой линии сканирования (или изображения  в целом) кантилевер приподнимается над поверхностью и сканирование осуществляется в соответствии с запомненным рельефом. В результате на втором проходе расстояние между  сканируемой поверхностью и закрепленным  концом кантилевера поддерживается постоянным. При этом расстояние зонд-поверхность должно быть достаточно большим, чтобы пренебречь силами Ван-дер-Ваальса, так что на втором проходе кантилевер подвергается воздействию только дальнодействующей магнитной силы.  В соответствии с этим методом и изображение рельефа и магнитное изображение могут быть получены одновременно.

 

Этот фазовый сдвиг зависит от характеристик материала образца. Регистрация и отображение фазового сдвига   в процессе сканирования (метод Отображения Фазового Контраста) широко используется в исследованиях наноструктурированных и неоднородных материалов. Подобно Контактному Методу Рассогласования «Полуконтактный»  Метод Рассогласования для подчеркивания малоразмерных неоднородностей на больших площадях.

 

 

Прерывисто-контактный Метод  обладет определенными преимуществами по сравнению Контактными методами. Прежде всего, при использовании этого метода давление кантилевера на поверхность образца существенно меньше, что позволяет работать с более мягкими и легко разрушающимися материалами, такими как полимеры и биоматериалы. «Полуконтактный» Метод  также более чувствителен к  различным взаимодействиям с поверхностью, что дает возможность ряд характеристик поверхности – распределение вязкости и упругости, электрических и магнитных доменов.

Ссылки

    1. US Pat. 4724318.
    2. J. Appl. Phys. 61, 4723 (1987).
    3. Appl. Phys. Lett. 53, 2400 (1988). 
    4. Phys. Rev. Lett. 57, 2403 (1986).