EXT Temp - ЭМТИОН
EXT Temp

NT-MDT

Модуль измерений с контролем температуры

Описание EXT Temp

Модуль АСМ измерений с контролем температуры для серии NTEGRA. Измерения, проводимые с нагревом и охлаждением образца, позволяют изучать свойства и структуру материалов при изменении температуры, в том числе фазовые переходы и др.. Реализовано несколько вариантов проведения исследований с изменением температуры образца как на воздухе, так и в жидкости в температурном диапазоне до 150 °C и до 300°C.

 

Пример использования модуля нагрева для АСМ NTEGRA:

 

 

 

 

Визуализация плавления кристалла полиэтилена. Последовательность изображений получена при нагревании образца от комнатной температуры до 130 0С. Размер скана 4.2х4.8х0.06 мкм.

 

Z RMS шум < 0.03 нм
Температурный диапазон от комнатной до 150 °C (до 300 °C опционально)
Точность поддержания температуры ±0.005 (типичные значения), ≤ ±0.01 °C
Размер образца 15×12×1.5 мм
Размер стейджа 22×23×8 мм
Длина кабеля 160 мм
Материал Титан
Вес стейджа 30 г

 

Брошюра_Магнитная литография и визуализация.
Загрузить

Может быть полезно:

SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее
BL422

Модуль цифровой электроники нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия — КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]


Рамановская спектроскопия

В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]


Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Идентификация драгоценных камней с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света

В настоящее время на ювелирном рынке существует большое разнообразие […]


Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы