EXT Temp - ЭМТИОН
EXT Temp

NT-MDT

Модуль измерений с контролем температуры

Описание EXT Temp

Модуль АСМ измерений с контролем температуры для серии NTEGRA. Измерения, проводимые с нагревом и охлаждением образца, позволяют изучать свойства и структуру материалов при изменении температуры, в том числе фазовые переходы и др.. Реализовано несколько вариантов проведения исследований с изменением температуры образца как на воздухе, так и в жидкости в температурном диапазоне до 150 °C и до 300°C.

Пример использования модуля нагрева для АСМ NTEGRA:

 

 

 

Визуализация плавления кристалла полиэтилена. Последовательность изображений получена при нагревании образца от комнатной температуры до 130 0С. Размер скана 4.2х4.8х0.06 мкм.

 

Z RMS шум < 0.03 нм
Температурный диапазон от комнатной до 150 °C (до 300 °C опционально)
Точность поддержания температуры ±0.005 (типичные значения), ≤ ±0.01 °C
Размер образца 15×12×1.5 мм
Размер стейджа 22×23×8 мм
Длина кабеля 160 мм
Материал Титан
Вес стейджа 30 г

 

Может быть полезно:

SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее
BL422

Модуль цифровой электроники нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы