Российская Федерация
Глубокая интеграция АСМ/Раман - эффективный оптический доступ к кантилеверу сверху/снизу/сбоку.
SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной Рамановской спектроскопией (АСМ/Раман).
С 1998 г. компания компания NT-MDT первой в мире представила серийно изготовляемую комбинацию АСМ и Раман, успешно интегрировав АСМ с методами оптической микроскопии и спектроскопии. В приборе поддерживаются более 30 АСМ методик, включая нерезонансную методику HybriD 3.0. Одновременное получение АСМ и рамановских изображений с той же области образца предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца. Возможность контроля поляризации и работы в ближнеполных методиках позволяет изучать плазмонные структуры.
Благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) SPECTRA позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. В TERS используются специальные кантилеверы, покрытые серебром или золотом, для локализации и усиления излучения в области острия кантилевера. Такие кантилеверы действуют как “наноусилители”, предоставляя возможность получения оптического изображения с пространственным оптическим разрешением выше дифракционного предела (до ~15 нм).
Схема зондово-усиленного Рамана – TERS (а), усиление Рамановского сигнала зондом (б), Рамановскоое изображение (в) и TERS изображение (г).
Флуоресценция отдельных NV-дефектов в одиночных детонационных наноалмазах
Таким образом, разрешение по плоскости при картировании АСМ/Раман не ограничено дифракционным пределом и может достигать значений меньше, чем 15 нм. Даже одиночные молекулы могут быть обнаружены и идентифицированы в соответствии с их спектром.
Уникальная конфигурация для одновременного АСМ-Раман-TERS и СБОМ картирования непрозрачных образцов.
|
||
Оптимизированная конфигурация для одновременного АСМ-Раман-TERS и СБОМ картирования прозрачных образцов (клетки, пленки, наночастицы) | ||
Конфигурация для засветки образца сбоку, в том числе для реализации TERS измерений на непрозрачных образцах | ||
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кварцевого оптоволокна в качестве зонда | ||
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кремниевого кантилевера в качестве зонда |
SPECTRA поддерживает большинство существующих на сегодняшний день АСМ методов (более 30), позволяющих проводить исследования с нанометровым разрешением. Таким образом, использование SPECTRA позволяет получить информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца. Оператору доступна информация о рельефе, намагниченности, электрическом потенциале, работе выхода, силе трения, пьезоотклике, упругости, емкости, току растекания и многие другие.
Возможность одновременного АСМ/Раман исследования одного и того же участка образца открывает новые возможности. В частности, позволяет получить данные о химическом составе, кристаллической структуре, присутствии примесей и дефектов, формы макромолекул и пр.. Полный рамановский спектр регистрируется в каждой точке исследуемого образца одновременно с получением АСМ изображения. Благодаря высокому качеству оптической системы двух- и трехмерные распределения спектральных характеристик образца могут быть изучены с пространственным разрешением, близким к теоретическому пределу.
Получение информации об одной и той же области образца методами АСМ и Рамановской микроскопии
Изучение поверхностных плазмонных эффектов
АСМ/СТМ: интеграция с оптической спектроскопией*
|
Конфокальная Рамановская/Флуоресцентная микроскопия*
|
Сканирующая ближнепольная микроскопия (СБОМ)*
|
Спектроскопия*
|
Зондово-усиленная рамановская микроскопия (TERS, S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)
|
Программное обеспечение
|
* Некоторые режимы измерений являются опциональными и могут быть не включены в базовую конфигурацию
Примеры применения: Физика, Химия и Материаловедение |
|
Общая физика, физика твердого тела |
и др. |
Минералогия |
|
Кристаллография |
|
Кинетика |
|
Фармацевтика |
|
Электрохимия |
|
Экология и промышленная безопасность |
|
Другие области |
|
Конфокальная микроскопия
|
||
Лазерный модуль |
Длина волны*
|
350 нм – 800 нм
|
– Система ввода
|
X-Y-Z позиционер,
точность позиционирования 1 мкм |
|
Держатель волокна с V-канавкой
|
||
40X объектив ввода
|
||
Волоконная Система Доставки KineFlex
|
||
Аттенюатор
|
VND фильтр
|
|
Оптический модуль |
Инвертированный микроскоп
|
|
Корпус с оптикой (390-800 нм)
|
||
Поляризатор в канале облучения с призмой Glan-Taylor 390-1000 нм – ручной
|
||
Поляризатор в канале регистрации спризмой Glan-Taylor 390-1000 нм – моторизованный
|
||
1/2 волновая пластинка, моторизованная – 3 положения
|
||
Расщепитель луча
|
||
60x TIRF объектив, NA 1,45**
|
||
Evanescent excitation option (для TERS)
|
||
Модуль сканирования |
Вес образца
|
До 1000 г
|
Область сканирования
|
100x100x25 мкм
|
|
Сканирование с замкнутой обратной связью
|
Емкостные датчики по X, Y, Z
|
|
Нелинейность, XY
|
0.03 % (типично)
|
|
Уровень шума, Z
|
<0.2 нм (типично)
|
|
Уровень шума, XY
|
<0.5 нм (типично)
|
|
Диафрагма |
Изменяемая от 0 до 1 мм, с шагом 1 мкм
|
Спектроскопия
|
||
Спектрометрическая фокальная длина |
520 мм
|
|
Отсечка рассеянного излучения |
10-5 измеренная на 20 нм от 632 нм лазерной линии
|
|
Контроль щели |
0–1 мм, размер шага 1 мкм, полностью автоматический
|
|
Плоское поле |
28 мм x 10 мм
|
|
Спектральное разрешение |
0.025 нм (1200 l/мм сетка*)
|
|
Порты |
1 вход, 2 выхода
|
|
Держатель решеток |
4-позиционная турель
|
|
Детекторы |
ПЗС
|
Спектральная чувствительность 200–1000 нм, термоэлектрическое охлаждение до –80°C, 95 % величина эффективности до 500 нм
|
ЛФД для счета фотонов**
|
Спектральная чувствительность 400–1000 нм, темновой поток = 25 фотонов/сек, поставляется с PCI платой со скоростью отсчета 1 ГГц
|
Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]
Запрос цены ПодробнееКомпания DAEIL Systems занимается изготовлением оптических столов с 1993 […]
Запрос цены Подробнее