NTEGRA MFM - ЭМТИОН
NTEGRA MFM

NT-MDT

NTEGRA MFM – АСМ для углубленного изучения магнитных свойств материалов одновременно силовыми и оптическими методами.

Описание NTEGRA MFM

NTEGRA MFM  –  это Сканирующий Зондовый Микроскоп ориентированный на исследования магнитной доменной структуры образцов методами магнитно-силовой микроскопии и комбинации MFM и поляризационных SNOM методик для возможности оптической визуализации доменной структуры со сверхвысоким оптическим разрешением. NTEGRA MFM позволяет получать данные о магнитных характеристиках образца с одной и той же его области как с помощью магнитных кантилеверов так и немагнитных апертурных кантилеверов, исключая возможность взаимного влияния зонда и образца друг на друга во время сканирования. Информация о морфологии образца собирается одновременно с данными о магнитных характеристиках с той же самой области образца.  Опционально возможна установка внешних электромагнитов, для работы во внешнем магнитном поле, снятия петель гистерезиса и др.

 

ПРИМЕНЕНИЕ:

  • Магнитные Материалы (Доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля)
  • Полупроводники (Морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев)
  • Запоминающие среды и устройства (CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи)
  • Наноэлектроника (Квантовые точки)

 

ПРИМЕР использования поляризационного SNOM для визуализации доменной структуры:

 

Топография (слева) и доменная структура (справа) феррит- гранатовой тонкой пленки, полученные методом поляризационного SNOM. (Образцы предоставлены: А.Н. Шапошников, А.Р. Прокопов, В.Н. Бержанский — Крымский федеральный университет им. В.И. Вернадского )

 

 

Сканирующая Зондовая Микроскопия
Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/
Технические характеристики
Тип сканирования
Сканирование образцом
Размер образца До 40 мм в диаметре,
до 15 мм в высоту
Вес образца До 100 г
XY позиционирование образца 5×5 мм
Разрешение позиционирования разрешение — 5 мкм
минимальное перемещение — 2 мкм
Поле сканирования 100x100x10 мкм
3x3x2,6 мкм
не более 1x1x1 мкм
До 200x200x20 мкм**(метод DualScanTM)
Нелинейность, XY
(с датчиками обратной связи)
0.1%
Уровень шума, Z
(СКВ в полосе 1000 Гц)
С датчиками 0.04 нм (типично),
0.06 нм
Без датчиков 0.03 нм
Уровень шума, XY***
(СКВ в полосе 200 Гц)
С датчиками 0.2 нм (типично),
0.3 нм (XY 100 мкм)
Без датчиков 0.02 нм (XY 100 мкм),
0.001 нм (XY 3 мкм)
Ошибка измерения линейных размеров
(с датчиками)
±0.5%
Система видеонаблюдения Оптическое разрешение 1 мкм
(0.4 мкм по требованию,
NA 0.7)****
Поле зрения 4.5-0.4 мм
Непрерывный зум возможно
Виброизоляция Активная  0.7-1000 Гц
Пассивная выше 1 кГц

Может быть полезно:

EXT Vac

Модуль измерений в вакууме и контролируемой атмосфере для АСМ […]

Запрос цены Подробнее
Магнитные кантилеверы

Преимущества магнитных зондов TipsNano: 1. Стабильность и устойчивость свойств. […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA AURA

NTEGRA Aura  –  это Сканирующий Зондовый Микроскоп для работы в […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы