Спектральный эллипсометр MUL-S
Многоугловой спектральный анализ плёнок с автоматическим изменением угла 40–90°.[...]
Запрос цены ПодробнееМногоугловой спектральный анализ плёнок с автоматическим изменением угла 40–90°.[...]
Спектральный ручной эллипсометр MUL-M
Спектральный анализ плёнок: ручной столик и угол, автоматическая фокусировка.[...]
Запрос цены ПодробнееСпектральный анализ плёнок: ручной столик и угол, автоматическая фокусировка.[...]
Спектральный автоматический эллипсометр MUL-A
Картирование толщины и оптических констант с опциональным столиком X–T.[...]
Запрос цены ПодробнееКартирование толщины и оптических констант с опциональным столиком X–T.[...]
Лазерный ручной эллипсометр MUL-LM
Лазерный контроль толщины на 632,8 нм. Ручная настройка угла и положения образца.[...]
Запрос цены ПодробнееЛазерный контроль толщины на 632,8 нм. Ручная настройка угла и положения образца.[...]
Лазерный автоматический эллипсометр MUL-LA
Лазерное картирование на 632,8 нм с автоматическим столиком X–Y или R–θ.[...]
Запрос цены ПодробнееЛазерное картирование на 632,8 нм с автоматическим столиком X–Y или R–θ.[...]
Рефлектометр RM-50
Точечный контроль толщины прозрачных и полупрозрачных плёнок. Около 1 с на точку.[...]
Запрос цены ПодробнееТочечный контроль толщины прозрачных и полупрозрачных плёнок. Около 1 с на точку.[...]
Рефлектометр RA-500
Автоматическое картирование покрытий на пластинах до 300 мм. Около 0,1 с на точку.[...]
Запрос цены ПодробнееАвтоматическое картирование покрытий на пластинах до 300 мм. Около 0,1 с на точку.[...]
Автоматическая установка контроля эпитаксиальных структур XT-36
Фотолюминесценция и рефлектометрия GaAs и InP с роботизированной загрузкой пластин.[...]
Запрос цены ПодробнееФотолюминесценция и рефлектометрия GaAs и InP с роботизированной загрузкой пластин.[...]
