Китай
Лазерное картирование на 632,8 нм с автоматическим столиком X–Y или R–θ.
Лазерный эллипсометр MUL-LA – это лазерный эллипсометр, который применяется для измерения параметров пленок на гладкой подложке. Он обеспечивает измерение толщины тонких пленок и оптических констант на длине волны гелий-неонового лазера 632,8 нм с высокой точностью. Прибор предназначен для интеграции в автоматизированные технологические процессы и системы контроля качества на производстве, обеспечивая высокую пропускную способность.
Прибор используется для определения эллипсометрических параметров (Ψ, Δ), толщины пленки, показателя преломления n и коэффициента экстинкции k. Оптическая система с одним компенсатором и функцией автоматической регулировки усиления детектора обеспечивает стабильность и повторяемость результатов. Конфигурация поддерживает полную автоматизацию измерений.
![]() |
![]() |
Фото программного обеспечения системы
| Характеристика | MUL-M | MUL-A | MUL-LA | MUL-S |
|---|---|---|---|---|
| Гониометр | Ручной | Ручной | Ручной | Автоматический |
| Спектральный диапазон 350–1000 нм | Стандартно | Стандартно | Нет | Стандартно |
| Спектральный диапазон 245–1000 нм | Опция | Опция | Нет | Опция |
| Спектральный диапазон 193–1000 нм | Опция | Опция | Нет | Опция |
| ИК-расширение диапазона до 1650 нм | Опция | Опция | Нет | Опция |
| Ручной столик образца | Стандартно | Стандартно | Стандартно | Стандартно |
| Автоматический столик образца | Опция | Опция | Опция | Опция |
| Автофокусировка | Стандартно | Стандартно | Опция | Стандартно |
| Камера наблюдения* | Опция | Опция | Опция | Опция |
| Измерительное пятно 200 мкм | Стандартно | Стандартно | — | Стандартно |
| Микропятно 30 мкм | Опция | Опция | Опция | Опция |
| Эллипсометрия Мюллера | Опция | Опция | Нет | Опция (15 элементов, нормированных на m₁₁) |
| Первый компенсатор | Стандартно | Стандартно | Стандартно | Стандартно |
| Второй компенсатор | Опция | Опция | Нет | Опция |
| Точность показателя преломления (100 нм SiO₂) | 0,003 | 0,003 | ±0,001 | 0,003 |
Камера 9× — для MUL-M, MUL-A и MUL-S; для MUL-LA доступна камера с автофокусом. MUL-LA работает на фиксированной длине волны 632,8 нм; размер базового пятна не указан. Для MUL-M, MUL-A и MUL-S микропятно 30 мкм предназначено для участков от 50 мкм. ИК-канал расширяет верхнюю границу выбранного спектрального диапазона до 1650 нм.
| Модель | MUL LA |
| Измеряемые параметры | Эллипсометрические углы Ψ и Δ, толщина пленки (d), показатель преломления (n) |
| Точность измерения | Толщина: 0.1 нм, Показатель преломления: 0.001 |
| Длина волны источника | 632.8 нм (гелий-неоновый лазер) |
| Оптическая компенсация | Один компенсатор (одна компенсирующая пластина) |
| Оптическое детектирование | Автоматическая регулировка усиления |
| Скорость измерения (одна точка) | ~1 секунда |
| Опции | Микро-пятно (Micro Spot): 30 мкм;
Столик для образцов: 4, 6, 8, 12 дюймов. |
Спектральный эллипсометр MUL-M определяет толщину и оптические константы однослойных […]
Запрос цены Подробнее
Спектральный эллипсометр MUL-A предназначен для определения толщины и оптических […]
Запрос цены Подробнее
EH100 – это прибор общего назначения для измерения […]
Запрос цены Подробнее