SOL Instruments
Лазерный анализатор элементного состава
Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500 производства СОЛ инструментс позволяет определять химические элементы от H до U с диапазоном измерения от 0.01 ppm до 100% за считанные минуты. Система LEA-S500 — это уникальный инструмент, который объединяет инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной и цифровой техники, а также программного обеспечения.
LEA-S500 является идеальным прибором для исследований, разработки новых материалов и технологий их обработки, а также контроля качества на всех стадиях производственного процесса. Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах.
Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.
Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут. Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации. Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.
Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.
Карта концентрации химического элемента на поверхности образца |
Анализ зеркальной поверхности, площадь 2х2 мм с шагом 100 мкм, 400 точек |
В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.
Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.
Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.
Анализатор элементного состава LEA-S500 применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного (химического) состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий на заводах, и в рамках научных исследований.
Анализатор LEA-S500 поверен и внесен в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 38154-08.
Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
Фокусное расстояние коллиматорного объектива спектрографа, мм | 500 |
Дифракционная решетка, штрихов/мм | 1800 |
Линейная дисперсия на длине волны блеска, нм/мм | 1.0 |
Диапазон регистрируемых длин волн спектров, нм | 200-800 |
Спектральный диапазон, единовременно регистрируемый детектором (цифровой камерой), при определенном заданном положении дифракционной решетки – регион спектра, нм (диапазон уменьшается с увеличением длины волны) | 20-30 |
Спектральное разрешение, нм/пиксель | 0,028 |
Длина волны блеска, нм | 270 |
Диапазон установки диаметра пятна лазерного излучения на поверхности пробы, мм | 0,2 – 1,2 |
Поле зрения системы видеонаблюдения, мм х мм | 1,2х1,2 |
Тип встроенного технологического лазера | Полупроводниковый, 1мВт, 650-680 нм. |
Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
Допустимые габаритные размеры анализируемых проб, мм | От 12х12х2
до 75х75х40 |
Диапазон перемещения пробы (установленной на столике), осуществляемой системой позиционирования в двух взаимно перпендикулярных («XY») направлениях, мм | ±5 |
Шаг перемещения пробы, осуществляемой системой позиционирования вдоль осей «XY», мкм | 1 |
Среда рабочей камеры
Среда спектрографа |
Воздух/разряженный воздух;
Воздух/аргон |
Остаточное давление в рабочей камере (в режиме
откачки воздуха), мм.рт.ст |
200 |
Время откачки воздуха из рабочей камеры, с | 30 |
Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
Тип системы | Лазерный |
Тип лазера | Твердотельный АИГ:Nd3+частотный, 2-импульсный |
Длина волны генерируемого излучения, нм | 1064 |
Средняя энергия импульса излучения, мДж | 80-150 |
Диапазон установки времени задержки между двумя импульсами, мкс | От 0 до 20 |
Частота следования сдвоенных импульсов излучения, Гц | 20 |
Длительность импульса излучения, нс | 10-12 |
Система охлаждения лазера | Автономная (вода – воздух) |
Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
Электропитание | 220В, 50Гц |
Потребляемая мощность, Вт, не более:
– аппаратный модуль (анализ); – аппаратный модуль в режиме «StandBy»; – программно-аппаратный комплекс (персональный компьютер и его периферия) |
950
10 500 |
Время выхода на рабочий режим, мин., не более | 15 |
Время непрерывной работы, ч., не менее | 8 |
Габаритные размеры (без компьютера), мм. | 1100х550х750 |
Масса, кг. | 120 |
Преимущества спектрофотометра МС 311: Двойной монохроматор, обеспечивающий низкий […]
Запрос цены Подробнее