SPECTRA Upright

Российская Федерация

SPECTRA – уникальная интеграция АСМ и конфокального Раман спектрометра.

Описание SPECTRA Upright

SPECTRA Upright– это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной Рамановской спектроскопией (АСМ/Раман), Upright конфигурация основана на использовании измерительной АСМ головки с высокоапертурным объективом для засветки кантилевера сверху. SPECTRA Upright позволяет проводить АСМ и Раман эксперименты с одной и той же области образца по схеме “на отражение”.

	Уникальная конфигурация для одновременного АСМ-Раман-TERS и СБОМ картирования непрозрачных образцов.
	Конфигурация для засветки образца сбоку, в том числе для реализации TERS измерений на непрозрачных образцах
	Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кварцевого оптоволокна в качестве зонда
	Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кремниевого кантилевера в качестве зонда

С 1998 г. компания компания NT-MDT первой в мире представила серийно изготовляемую комбинацию АСМ и Раман, успешно интегрировав АСМ с методами оптической микроскопии и спектроскопии. В приборе поддерживаются более 30 АСМ методик, включая нерезонансную методику HybriD 3.0. Одновременное получение АСМ и рамановских изображений с той же области образца предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца. Возможность контроля поляризации и работы в ближнеполных методиках позволяет изучать плазмонные структуры.

Пример Рамановского спектра углеродных нанотрубок с определением параметров их структуры по спектральным пикам.

Благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) SPECTRA позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. В TERS используются специальные кантилеверы, покрытые серебром или золотом, для локализации и усиления излучения в области острия кантилевера. Такие кантилеверы действуют как “наноусилители”, предоставляя возможность получения оптического изображения с пространственным оптическим разрешением выше дифракционного предела (до ~15 нм).

Изображение полиэтилена высокой и низкой плотности. Слева направо топография, адгезия, модуль юнга, Раман карта. Размер скана 30 х 30 мкм.

АСМ/СТМ: интеграция с оптической спектроскопией*

Upright и Inverted оптические АСМ конфигурации (оптимизированные для непрозрачных и прозрачных образцов соответственно);
Возможность боковой засветки
Максимально возможное значение числовых апертур оптики используемой одновременно с АСМ: 0.7 NA для Upright, 1.3–1.4 NA для Inverted
АСМ/СТМ и конфокальная рамановская/флуоресцентная микроскопия и спектроскопия
Поддерживаются все стандартные СЗМ методики (более 30) — в комбинации с конфокальной рамановской/флуоресцентной микроскопией и спектроскопией
Низкий шум при АСМ/СТМ измерениях (атомарное разрешение)
Вибрационные и термо дрейфы минимизированы за счет специальной конструкции и материалов используемых в АСМ оптической головке
Поддержка постоянного фокуса: образец всегда находится в фокусе при помощи АСМ-обратной связи по Z; возможность получения высококачественного конфокального изображения неровных и/или наклонных образцов
АСМ/Раман измерения могут выполнятся в воздухе, в контролируемой атмосфере и в жидкости – во всех случаях возможен контроль температуры

Конфокальная Рамановская/Флуоресцентная микроскопия*

Конфокальная рамановская/флуоресцентная/релеевская микроскопия одновременно с АСМ
Предел оптического разрешения: 200 нм XY, 500 нм Z (с иммерсионным объективом)
Конфокальная схема; программный контроль конфокального пинхола (щели) для оптимального сигнала и конфокальности
Моторизованный расширитель лазерного пучка/коллиматор: позволяет осуществлять индивидуальные настройки формирования луча для различных лазеров и объективов
3D (XYZ) конфокальное сканирование и мощный программный пакет обработки изображений
Гиперспектральное картирование (запись полного рамановского спектра в каждой точке 1D, 2D или 3D конфокального скана) с последующим программным анализом
Оптическая литография (векторная, растровая)

Сканирующая ближнепольная микроскопия (СБОМ)*

Поддерживаются две основные СБОМ методики: на основе использования кварцевого оптоволокна и на основе апертурного кремниевого кантилевера
Поддерживаются режимы: Пропускание, Отражение, Сбор
Детектируются СБОМ сигналы: интенсивность излучения, флуоресценция, спектроскопия
СБОМ литография (векторная и растровая)

Спектроскопия*

Высокоэффективный спектрометр с фокусным расстоянием 520мм и 4 моторизованными решетками
Видимый, УФ и ИК спектральные диапазоны
Решетка Эшелле для свервысокого спектрального разрешения: 0.007 нм (< 0.1 1/см)
До 3 различных детектеров могут быть установлены единовременно
Охлаждаемая до -100 ºC ПЗС камера. EMCCD камера доступна опционально — для ультрабыстрых процессов
ФЭУ или лавинный фотодиод доступны в качестве детектеров
Моторизованный поляризатор в каналах возбуждения и детектирования
Полностью автоматическое-моторизованное переключение между лазерами, включая перестройку всего спектрометра (решеток, фильтров, системы формирования и регистрации излучения)

Зондово-усиленная рамановская микроскопия (TERS, S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)

Поддержка всех существующих TERS геометрий: засветка/сбор снизу, сверху и сбоку
Различные АСМ режимы и TERS зонды могут быть использованы: СТМ, АСМ кантилеверы, оптоволоконные зонды
Dual scan (для режима Hot Point картирование TERS): сканирование образцом и сканирование зондом / лазером
Моторизованный поляризатор для получения оптимальной поляризации света для TERS

Программное обеспечение

Программная интеграция АСМ и РАман измерений; все АСМ/Раман/СБОМ эксперименты и последующий анализ изображений выполняются в едином программном обеспечении
Мощная математическая программная обработка 1D, 2D и 3D гиперспектральных изображений
Выгрузка данных в удобном формате (Excel, MatLab, Cytospec etc.)

* Некоторые режимы измерений являются опциональными и могут быть не включены в базовую конфигурацию

Общая физика, физика твердого тела	Изучение поверхности объектов со сверхвысоким разрешением Изучение распределения напряжений, дислокаций Исследование углеродных наноматериалов (структура, электрические, микромеханические и другие свойства) Обнаружение микропримесей веществ Изучение распределения на поверхности потенциала, электропроводимости, теплопроводимости и др Магнетизм, визуализация магнитных доменов и др.
Минералогия	Драгоценные камни и материалы Контроль качества роста
Кристаллография	Исследование дефектов и нарушения структуры в кристаллах Контроль кристаллографических поверхностей
Кинетика	Исследование термической зависимости Исследование фазовых состояний вещества
Фармацевтика	Контроль производства таблетированных форм и кремов Исследование взаимодействия
Электрохимия	Изучение динамики поверхностных процессов Контроль за осаждением на поверхность и окислением поверхностей Визуализация адсорбированных молекул и разного рода осадков
Экология и промышленная безопасность	Изучение химических примесей Изучение изношенности конструкционных материалов
Другие области	Технический контроль в производстве Определение отдельных химических связей и групп в молекулах Исследование внутри и межмолекулярных связей Криминалистика Таможенная экспертиза Наноманипуляции

Конфокальная микроскопия
Лазерный модуль	Длина волны*	441, 488, 514, 532, 633 нм
	Система ввода	X-Y-Z позиционер, точность позиционирования 1 мкм
		Держатель волокна с V-канавкой
		40X объектив ввода
		Волоконная Система Доставки KineFlex
	Аттенюатор	VND фильтр
Оптический модуль	Инвертированный микроскоп
	Корпус с оптикой (390-800 нм)
	Поляризатор в канале облучения с призмой Glan-Taylor 390-1000 нм – ручной
	Поляризатор в канале регистрации спризмой Glan-Taylor 390-1000 нм – моторизованный
	1/2 волновая пластинка, моторизованная – 3 положения
	Расщепитель луча
	60x TIRF объектив, NA 1,45**
	Evanescent excitation option (для TERS)
Модуль сканирования	Вес образца	До 1000 г
	Область сканирования	100x100x25 мкм
	Сканирование с замкнутой обратной связью	Емкостные датчики по X, Y, Z
	Нелинейность, XY	0.03 % (типично)
	Уровень шума, Z	<0.2 нм (типично)
	Уровень шума, XY	<0.5 нм (типично)
Диафрагма		Изменяемая от 0 до 1 мм, с шагом 1 мкм

Спектроскопия
Спектрометрическая фокальная длина	520 мм
Отсечка рассеянного излучения	10^-5 измеренная на 20 нм от 632 нм лазерной линии
Контроль щели	0–1 мм, размер шага 1 мкм, полностью автоматический
Плоское поле	28 мм x 10 мм
Спектральное разрешение	0.025 нм (1200 l/мм сетка*)
Порты	1 вход, 2 выхода
Держатель решеток	4-позиционная турель
Детекторы	ПЗС	Спектральная чувствительность 200–1000 нм, термоэлектрическое охлаждение до –80°C, 95 % величина эффективности до 500 нм
	ЛФД для счета фотонов**	Спектральная чувствительность 400–1000 нм, темновой поток = 25 фотонов/сек, поставляется с PCI платой со скоростью отсчета 1 ГГц

Загрузить

Буклет_Магнитная литография и визуализация.

Загрузить

Каталог Интегра Спектра

Загрузить

Каталог Оптические плиты DAEIL SYSTEMS

Загрузить

Каталог

SPECTRA Upright

Описание SPECTRA Upright

АСМ/СТМ: интеграция с оптической спектроскопией*

Конфокальная Рамановская/Флуоресцентная микроскопия*

Сканирующая ближнепольная микроскопия (СБОМ)*

Спектроскопия*

Зондово-усиленная рамановская микроскопия (TERS, S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)

Программное обеспечение

Буклет_Магнитная литография и визуализация.

Каталог Интегра Спектра

Каталог Оптические плиты DAEIL SYSTEMS

Может быть полезно:

Оптические столы

EXT SNA

Confotec NR500

Описание методик

Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением

Современные подходы к улучшению разрешения в растровой электронной микроскопии (РЭМ)

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия – КЗЭМ

Научные результаты на оборудовании

Разработка нового метода определения устойчивости к истиранию материалов в сухой среде

Получение иерархических структур микросфер оксида меди CuO СВЧ методом

Применение Рамановской конфокальной микроскопии для анализа многослойных полимерных пленок

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы

Каталог

SPECTRA Upright

Описание SPECTRA Upright

АСМ/СТМ: интеграция с оптической спектроскопией*

Конфокальная Рамановская/Флуоресцентная микроскопия*

Сканирующая ближнепольная микроскопия (СБОМ)*

Спектроскопия*

Зондово-усиленная рамановская микроскопия (TERS, S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)

Программное обеспечение

Буклет_Магнитная литография и визуализация.

Каталог Интегра Спектра

Каталог Оптические плиты DAEIL SYSTEMS

Может быть полезно:

Оптические столы

EXT SNA

Confotec NR500

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы

Спасибо за заявку

Наши менеджеры свяжутся с Вами, как только обработают Ваш запрос