EXT SNA - ЭМТИОН
EXT SNA

NT-MDT

Оптическая головка нового поколения

Описание EXT SNA

Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. Оптическая измерительная головка позволяет реализовать комбинацию атомно-силовой микроскопию и оптических методик, таких как, например, рамановская спектроскопия. Оптическая головка позволяет сфокусировать лазерное излучение на кантилевер и единовременно получать АСМ и оптическую информацию с одной и той же области образца. Методики TERS (tip enhanced raman scattering) позволяют многократно усилить оптический сигнал и значительно улучшить пространственное разрешение до десятков нм. Новая оптическая головка обладает высокой стабильностью, высокой степенью интеграции АСМ и оптики, позволяет осуществлять гибкую схему засветки/сбора сигнала.

Пример расположения объективов в оптической головке нового поколения для реализации схем засветки/сбора сигнала «сверху», «сбоку», «снизу»

 

Пример реализации одновременного использования АСМ и Раман спектрометра для изучения слоев графена на АСМ NTEGRA:

 

Методики:

  • Более 30 АСМ методов для измерения рельефа поверхности, механических, электрических, магнитных свойств образца, проведения наноманипуляций и пр.
  • Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия
  • Конфокальная Рамановская микроскопия
  • Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия
  • Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), в том числе безапертурная
  • Зондово-усиленная Рамановская / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)
Контролируемые условия измерений:

 

  • Температура образца
  • Влажность
  • Газовый состав атмосферы
  • Измерения на воздухе
  • Измерения в жидкостной ячейке и чашках Петри
  • Измерения в вакууме

Может быть полезно:

SNOM на апертурных кантилеверах

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM) позволяет изучать оптические свойства […]

Запрос цены Подробнее
SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы