EXT SNA - ЭМТИОН
EXT SNA

NT-MDT

Оптическая головка нового поколения

Описание EXT SNA

Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. Оптическая измерительная головка позволяет реализовать комбинацию атомно-силовой микроскопию и оптических методик, таких как, например, рамановская спектроскопия. Оптическая головка позволяет сфокусировать лазерное излучение на кантилевер и единовременно получать АСМ и оптическую информацию с одной и той же области образца. Методики TERS (tip enhanced raman scattering) позволяют многократно усилить оптический сигнал и значительно улучшить пространственное разрешение до десятков нм. Новая оптическая головка обладает высокой стабильностью, высокой степенью интеграции АСМ и оптики, позволяет осуществлять гибкую схему засветки/сбора сигнала.

Пример расположения объективов в оптической головке нового поколения для реализации схем засветки/сбора сигнала «сверху», «сбоку», «снизу»

 

Пример реализации одновременного использования АСМ и Раман спектрометра для изучения слоев графена на АСМ NTEGRA:

 

Методики:

  • Более 30 АСМ методов для измерения рельефа поверхности, механических, электрических, магнитных свойств образца, проведения наноманипуляций и пр.
  • Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия
  • Конфокальная Рамановская микроскопия
  • Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия
  • Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), в том числе безапертурная
  • Зондово-усиленная Рамановская / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)
Контролируемые условия измерений:

 

  • Температура образца
  • Влажность
  • Газовый состав атмосферы
  • Измерения на воздухе
  • Измерения в жидкостной ячейке и чашках Петри
  • Измерения в вакууме
Каталог_Интегра Спектра
Загрузить

Может быть полезно:

SNOM на апертурных кантилеверах

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM) позволяет изучать оптические свойства […]

Запрос цены Подробнее
SPECTRA Full

SPECTRA – это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Корреляционная Зондовая и Электронная Микроскопия — КЗЭМ

  Корреляционная микроскопия предоставляет преимущества визуализации одного и того […]


Рамановская спектроскопия

В Рамановоской спектроскопии (Спектроскопии Комбинационного рассеяния) образец облучается монохроматическим […]


Атомно-силовая Акустическая Микроскопия

Основная идея Атомно-силовой Акустической Микроскопии (АСАМ) заключается в возбуждении […]


Посмотреть все методики

Научные результаты на обору­довании

Идентификация драгоценных камней с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света

В настоящее время на ювелирном рынке существует большое разнообразие […]


Управление разделением фаз в тонких пленках диоксида ванадия с помощью структурирования подложек

Сильные электронно-решетчатые взаимодействия в коррелированных электронных системах предоставляют уникальные […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Посмотреть все статьи

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы