BL422 - ЭМТИОН
BL422

NT-MDT

Модуль цифровой электроники нового поколения

Описание BL422

Модуль цифровой электроники нового поколения для АСМ серии NTEGRA.

 

 

Особенности:

 

  • Поддержка всех существующих методик
  • Современная элементная база
  • Улучшенные алгоритмы быстрого сканирования
  • Прямой доступ к 18 АСМ сигналам
  • Растровый наномеханический анализ (Hybrid 3.0) – без дополнительных затрат

 

Благодаря возможностям современной компонентной базе и улучшенным алгоритмам обработки сигналов стала возможна реализация растрового наномеханического анализа (Hybrid 3.0) на базе основного блока электроники. Hybrid 3.0 позволяет снимать силовые кривые в каждой точке сканирования и проводить их анализ с целью получения информации не только о топографии образца, но и его жесткости, адгезионных свойств и др. При этом пользователь может контролировать силу воздействия зонда на образец. Ключевой особенностью методики Hybrid 3.0 является честный анализ каждой снятой силовой кривой (в отличии от используемых ранее усредненных результатов кривых подвода и отвода по синусоиде).

 

 

Слева направо: топография PS-PBD (размер скана: 5×5 мкм. скорость: 1 Гц), Адгезия, модуль Юнга.

 

Теперь пользователям доступны все существующие и перспективные методики атомно-силовой микроскопии, в том числе методики картирования наномеханических свойств образцов в едином блоке электроники и нет необходимости тратить бюджет на дополнительные дорогостоящие системы обработки АСМ сигналов.

Общие характеристики цифровой электроники нового поколения:

 

  • Максимальное количество изображений, получаемых за одно сканирование —  8шт.
  • Максимальный размер изображения —  8000х8000 точек
  • Наличие возможности сканирования неквадратных участков
  • Чувствительность синхронного детектора по фазе в полосе 1 кГц не более 0.01 градуса
  • Цифровое вычисление фазы
  • Наличие платы с DSP процессором с частотой 320МГц
  • Наличие платы платы диагностики электронного блока
  • Цифровая петля обратной связи реализована для следующих сигналов: Z, X, Y, напряжение смещения, частота, амплитуда
  • Диапазон напряжений на биполярных высоковольтных выходы X, Y и Z от «-150» до «150» В
  • Наличие нерезонансной методики сканирования Hybrid 3.0 путем снятия и анализа силовой кривой в каждой точке сканирования

 

Интерфейсы:

 

  • Интерфейс типа USB
  • Наличие встроенного модуля прямого доступа к сигналам
  • Количество контролируемых сигналов каждый через разъем типа BNC — 18шт
  • Наличие прямого доступа к сигналу генерации осцилляции датчика, ВХОД-ВЫХОД через встроенный модуль
  • Наличие прямого доступа к сигналу напряжения смещения, ВХОД-ВЫХОД через встроенный в модуль
  • Наличие прямого доступа к сигналу тока на датчике, ВХОД-ВЫХОД через встроенный модуль
  • Наличие прямого доступа к сигналу латеральных сил, ВХОД-ВЫХОД через встроенный модуль
  • Наличие прямого доступа к сигналу отклонения датчика, ВХОД-ВЫХОД через встроенный модуль
  • Наличие прямого доступа к сигналу низкого напряжения для X, Y, Z , ВЫХОД через встроенный модуль

Может быть полезно:

EXT SNA

Оптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее
EXT Temp

Модуль АСМ измерений с контролем температуры для серии NTEGRA. […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA PRIMA

NTEGRA Prima- это многофункциональный АСМ для выполнения наиболее типичных […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы