NTEGRA ACADEMIA

NTMDT BV (Королевство Нидерландов)

NTEGRA Academia - это многофункциональный АСМ для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение  лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.

Описание NTEGRA ACADEMIA

NTEGRA Academia — это многофункциональный АСМ для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение  лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.

NTEGRA Academia поддерживает более 40 методик измерения, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Эксперименты можно проводить не только с помощью обычных кремниевых кантилеверов, но и с помощью вольфрамовой проволоки, которая является расходным материалом и проста в использовании в учебных целях.

Специальное устройство для создания вольфрамовых зондов методом электрохимического травления, позволяющее самим студентам оттачивать вольфрамовые зонды.

Сменный сканер с емкостными датчиками с диапазоном сканирования в режиме высокого напряжения (X × Y × Z); 100х100х10 мкм, в режиме низкого напряжения (X × Y × Z); 3x3x2 мкм Минимальный шаг сканирования: 2 нм.

Программное обеспечение Nova SPM для высокоэффективного управления СЗМ и обработки изображений.

Электроника нового поколения обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта функция представляется основной для работы с высокочастотными режимами АСМ и использованием высокочастотных кантилеверов.

 

ПРИМЕНЕНИЕ:

  • Биология и Биотехнология (Протеины, ДНК, вирусы, бактерии, эукариоты, ткани)
  • Материаловедение (Морфология поверхности, локальные механические, пьезоэлектрические, адгезионные и трибологические характеристики)
  • Магнитные Материалы (Доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля)
  • Полупроводники (Морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев)
  • Полимеры и Тонкие Органические Пленки (Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки)
  • Запоминающие среды и устройства (CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи)
  • Наноматериалы (Нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы)
  • Наноструктуры (Фуллерены, нанотрубки, нанокапсулы)
  • Наноэлектроника (Квантовые точки)
  • Нанообработка (АСМ литография: силовая (наногравировка и наночеканка), токовая (Локальное анодное оксидирование), СТМ литография)
  • Наноманипуляции (Перемещение и ориентирование нанообъектов)

 

Сканирующая Зондовая Микроскопия
На воздухе и в жидкости: АСМ (контактная + полуконтактная + бесконтактная) / Латерально-Силовая Микроскопия/ Отображение Фазы/ Модуляция Силы/ Отображение Адгезионных Сил/ Литографии: АСМ (Силовая)
Только на воздухе: СТМ/ МСМ/ ЭСМ/ СЕМ/ Метод Зонда Кельвина/ Отображение Сопротивления Растекания/ AFAM (по требованию)/Литографии: АСМ (Токовая), СТМ/
Технические характеристики
Тип сканирования
Сканирование образцом
Размер образца До 40 мм в диаметре,
до 15 мм в высоту
Вес образца До 100 г
XY позиционирование образца 5×5 мм
Разрешение позиционирования разрешение — 5 мкм
минимальное перемещение — 2 мкм
Поле сканирования 100x100x10 мкм
3x3x2,6 мкм
не более 1x1x1 мкм
До 200x200x20 мкм**(метод DualScanTM)
Нелинейность, XY
(с датчиками обратной связи)
0.1%
Уровень шума, Z
(СКВ в полосе 1000 Гц)
С датчиками 0.04 нм (типично),
0.06 нм
Без датчиков 0.03 нм
Уровень шума, XY***
(СКВ в полосе 200 Гц)
С датчиками 0.2 нм (типично),
0.3 нм (XY 100 мкм)
Без датчиков 0.02 нм (XY 100 мкм),
0.001 нм (XY 3 мкм)
Ошибка измерения линейных размеров
(с датчиками)
±0.5%
Система видеонаблюдения Оптическое разрешение 1 мкм
(0.4 мкм по требованию,
NA 0.7)****
Поле зрения 4.5-0.4 мм
Непрерывный зум возможно
Виброизоляция Активная  0.7-1000 Гц
Пассивная выше 1 кГц

Может быть полезно:

Описание методик

Полуконтактный АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Силовой Микроскопии впервые было […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Многопроходные Методики

Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы