Российская Федерация
SPECTRA – уникальная интеграция АСМ и конфокального Раман спектрометра.
SPECTRA Upright– это уникальная интеграция атомно-силового микроскопа с конфокальной Рамановской спектроскопией (АСМ/Раман), Upright конфигурация основана на использовании измерительной АСМ головки с высокоапертурным объективом для засветки кантилевера сверху. SPECTRA Upright позволяет проводить АСМ и Раман эксперименты с одной и той же области образца по схеме “на отражение”.
Уникальная конфигурация для одновременного АСМ-Раман-TERS и СБОМ картирования непрозрачных образцов.
|
||
Конфигурация для засветки образца сбоку, в том числе для реализации TERS измерений на непрозрачных образцах | ||
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кварцевого оптоволокна в качестве зонда | ||
Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием кремниевого кантилевера в качестве зонда |
С 1998 г. компания компания NT-MDT первой в мире представила серийно изготовляемую комбинацию АСМ и Раман, успешно интегрировав АСМ с методами оптической микроскопии и спектроскопии. В приборе поддерживаются более 30 АСМ методик, включая нерезонансную методику HybriD 3.0. Одновременное получение АСМ и рамановских изображений с той же области образца предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца. Возможность контроля поляризации и работы в ближнеполных методиках позволяет изучать плазмонные структуры.
Пример Рамановского спектра углеродных нанотрубок с определением параметров их структуры по спектральным пикам.
Благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) SPECTRA позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. В TERS используются специальные кантилеверы, покрытые серебром или золотом, для локализации и усиления излучения в области острия кантилевера. Такие кантилеверы действуют как “наноусилители”, предоставляя возможность получения оптического изображения с пространственным оптическим разрешением выше дифракционного предела (до ~15 нм).
Изображение полиэтилена высокой и низкой плотности. Слева направо топография, адгезия, модуль юнга, Раман карта. Размер скана 30 х 30 мкм.
АСМ/СТМ: интеграция с оптической спектроскопией*
|
Конфокальная Рамановская/Флуоресцентная микроскопия*
|
Сканирующая ближнепольная микроскопия (СБОМ)*
|
Спектроскопия*
|
Зондово-усиленная рамановская микроскопия (TERS, S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE etc.)
|
Программное обеспечение
|
* Некоторые режимы измерений являются опциональными и могут быть не включены в базовую конфигурацию
Общая физика, физика твердого тела |
и др. |
Минералогия |
|
Кристаллография |
|
Кинетика |
|
Фармацевтика |
|
Электрохимия |
|
Экология и промышленная безопасность |
|
Другие области |
|
Конфокальная микроскопия
|
||
Лазерный модуль |
Длина волны*
|
441, 488, 514, 532, 633 нм
|
Система ввода
|
X-Y-Z позиционер,
точность позиционирования 1 мкм |
|
Держатель волокна с V-канавкой
|
||
40X объектив ввода
|
||
Волоконная Система Доставки KineFlex
|
||
Аттенюатор
|
VND фильтр
|
|
Оптический модуль |
Инвертированный микроскоп
|
|
Корпус с оптикой (390-800 нм)
|
||
Поляризатор в канале облучения с призмой Glan-Taylor 390-1000 нм – ручной
|
||
Поляризатор в канале регистрации спризмой Glan-Taylor 390-1000 нм – моторизованный
|
||
1/2 волновая пластинка, моторизованная – 3 положения
|
||
Расщепитель луча
|
||
60x TIRF объектив, NA 1,45**
|
||
Evanescent excitation option (для TERS)
|
||
Модуль сканирования |
Вес образца
|
До 1000 г
|
Область сканирования
|
100x100x25 мкм
|
|
Сканирование с замкнутой обратной связью
|
Емкостные датчики по X, Y, Z
|
|
Нелинейность, XY
|
0.03 % (типично)
|
|
Уровень шума, Z
|
<0.2 нм (типично)
|
|
Уровень шума, XY
|
<0.5 нм (типично)
|
|
Диафрагма |
Изменяемая от 0 до 1 мм, с шагом 1 мкм
|
Спектроскопия
|
||
Спектрометрическая фокальная длина |
520 мм
|
|
Отсечка рассеянного излучения |
10-5 измеренная на 20 нм от 632 нм лазерной линии
|
|
Контроль щели |
0–1 мм, размер шага 1 мкм, полностью автоматический
|
|
Плоское поле |
28 мм x 10 мм
|
|
Спектральное разрешение |
0.025 нм (1200 l/мм сетка*)
|
|
Порты |
1 вход, 2 выхода
|
|
Держатель решеток |
4-позиционная турель
|
|
Детекторы |
ПЗС
|
Спектральная чувствительность 200–1000 нм, термоэлектрическое охлаждение до –80°C, 95 % величина эффективности до 500 нм
|
ЛФД для счета фотонов**
|
Спектральная чувствительность 400–1000 нм, темновой поток = 25 фотонов/сек, поставляется с PCI платой со скоростью отсчета 1 ГГц
|
Компания DAEIL Systems занимается изготовлением оптических столов с 1993 […]
Запрос цены ПодробнееОптическая измерительная головка нового поколения для АСМ серии NTEGRA. […]
Запрос цены ПодробнееПреимущества Одновременный / многофункциональный анализ: рамановские измерения люминесцентные […]
Запрос цены Подробнее