admin, Автор в ЭМТИОН

Методики АСМ

Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между балкой кантилевера (кремниевого зонда) и образцом. Существуют более трех десятков различных методик АСМ сканирования, позволяющих получать ту или иную информацию об образце. Даже базовый микроскоп серии NTEGRA способен получать данные не только о морфологии поверхности но и ее магнитных, электрических, адгезионных свойствах.

 

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) -замещенных DyIG [(Bi, Ga: DyIG)] пленок полученных методом реактивно ионного распыления на (111) GGG и (111) CMZGGG подложках, от времени кристаллизационного отжига.

 

Было установлено, что шероховатость, степень кристалличности и угол Фарадеевского вращения пленок существенно зависят от типа подложки и времени кристаллизационного отжига. Было определено минимальное время для достижения оптимального соотношения между измеренными магнитооптическими и структурными параметрами пленок. (Materials Research Bulletin 95 (2017) 115–122)