Описание РФЭС высокого разрешения MM-ARPES

MM-ARPES представляет собой следующее поколение ARPES-систем (Momentum Microscope), принцип работы которых коренным образом отличается от традиционных фотоэмиссионных спектрометров. В основе метода лежит явление фотоэффекта — при облучении поверхности образца ультрафиолетовым излучением происходит испускание фотоэлектронов, энергия и импульс которых несут информацию об электронной структуре материала.

Ключевое отличие MM-ARPES от традиционных систем заключается в использовании метода фотоэмиссионной электронной микроскопии (PEEM) для одновременного получения полной карты обратного пространства (k-пространства) для каждой точки реального пространства на образце. Это позволяет преодолеть основное ограничение классических ARPES-систем, требующих последовательного сканирования по углам.

Основные особенности и преимущества системы

• Высокое пространственное разрешение (≤ 50 нм) в режиме PEEM
• Широкое угловое поле зрения до ±90°, обеспечивающее захват полной зоны Бриллюэна за один измерение
• Уникальная многорежимность: возможность in-situ переключения между режимами PEEM, MM-ARPES и микро-ARPES
• Криогенное охлаждение образца до 15 К для стабилизации электронных свойств

Система обеспечивает беспрецедентную эффективность сбора данных и идеально подходит для исследования неоднородных образцов и наноразмерных объектов, позволяя проводить быструю характеристику электронной структуры микронных и субмикронных объектов.

Области применения

• Исследование микронных и наноразмерных образцов
• Изучение гетероструктур
• Исследование квантовых точек
• Проведение in-situ экспериментов с локальным возбуждением