ЭМТИОН - Современное научное оборудование
Каталог
Главная Каталог
Рентгеновские методы
Электронная микроскопия
Метрология поверхности
Раман | VIS | УФ-спектрометрия
Оптическая микроскопия
Магнетизм
ЯМР-спектроскопия
Криосистемы
Травление и осаждение
Литография

Описание методик

Алгоритм работы с ЭДС в СЭМ

  Работа с сканирующим электронным микроскопом (СЭМ) требует не […]

Анализ текстур методом рентгеновской дифрактометрии

  Анализ текстур — метод исследования текстурных свойств объектов, […]

Кристаллическая структура, магнитные свойства и электронная структура нормального состояния анизотропного кагоме-металла TbTi₃Bi₄. Часть 1.

  В данной работе исследована взаимосвязь кристаллической структуры, магнитного […]
Посмотреть все методики

Научные результаты на оборудовании

Исследуемые элементы на лазерном анализаторе LEA-S500

Примеры и кейсы применения лазерного анализатора LEA S-500 Лазерно-искровой […]

Синтез, структура и противоопухолевая активность новых комплексов меди(II) на основе подандов с 8-оксихинолильными группами

  Исследователи лаборатории структурной химии ФИЦ ПХФ и МХ […]

Химическое Рамановское картирование на спектрометре MR200

Рамановская спектроскопия — аналитический метод, основанный на явлении неупругого […]
Посмотреть все статьи

    Оставьте заявку

    И мы ответим на интересующие Вас вопросы


    Оставьте заявку

    И мы ответим на интересующие Вас вопросы


      Согласие на обработку персональных данных


      Спасибо за заявку

      Наши менеджеры свяжутся с Вами, как только обработают Ваш запрос

      Вернуться на главную