Многопроходные методики АСМ обычно используются в задачах, где необходимо определять иные, чем рельеф данные, и при этом необходимо исключить влияние рельефа поверхности. В качестве примера приведено изображение линий сканирования поперек одного магнитного домена для различных начальных расстояний зонд-образец [1]. Аналогичные методики использовались для определения толщины пленки жидкости на поверхности твердой подложки [2], для наноманипуляций (т.е. для перемещения отдельных атомов [3]), при проведении нанолитографических операций [4].
Измерение дальнодействующих магнитных сил на втором проходе магнитно-силовой моды.
Магнитная доменная структура слева и топография жесткого диска справа.
Первый проход может быть проведен с применением Контактного или Полуконтактного Методов. На втором проходе можно проводить измерения электрических сил или потенциалов, магнитных полей, диссипаций, распределений емкости. В некоторых случаях может быть необходимым и третий проход для исключения влияния не только рельефа, но и поверхностного электрического поля.
Ссылки
- Appl. Phys. Lett. 52, 244 (1988).
- J. Chem. Phys. 90, 7550 (1989).
- Nature 344, 524 (1990).
- Nature 347, 748 (1989).
.png)