Отчет по участию ЭМТИОН в международной конференции SPM-2019-RCWDFM - ЭМТИОН SPM2019, АСМ конференция, сканирующая зондовая микроскопия

Отчет по участию ЭМТИОН в международной конференции SPM-2019-RCWDFM

Отчет по участию ЭМТИОН в международной конференции SPM-2019-RCWDFM

 

Команда ЭМТИОН и NT-MDT (Нидерланды) приняли участие в 3-ей Международнаой конференции «Сканирующая зондовая микроскопия (SPM2019)», 4-ом Российско-Китайском семинаре по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам, Международной молодежной конференции «Функциональная визуализация наноматериалов», которые проходили 25 – 28 августа 2019 г. в и Уральском Федеральном Университете им. первого президента Б.Н. Ельцина.

 

Демо стенд ЭМТИОН:

Посетители конференции  ознакомились с новейшими разработками NT-MDT (Нидерланды) на примере усовершенствованной модели многофункционального атомно-силового микроскопа NTEGRA, представленного на стенде ЭМТИОН. Показаны измерения в том числе топографии и доменной структуры образцов ниобата лития. Не смотря на полевые (много внешнего шума) условия измерений, прибор продемонстрировал высокую стабильность работы.

 

Доклад ЭМТИОН:

Исполнительный директор к.т.н. Краснобородько С. выступил с докладом на тему: «Современные методы атомно-силовой микроскопии», в докладе показаны наработки NT-MDT (Нидерланды), в том числе:

  • Новое поколение цифровой электроники: улучшенные алгоритмы быстрого сканирования; растровый наномеханический анализ(RNMA mode); прямой доступ к 18 АСМ сигналам;
  • Автоматизированная настройка АСМ головки: автоматизация процесса для рутинных измерений; Возможность настройки параметров головки через ПО (в том числе при работе в вакууме);
  • Новое поколение оптических АСМ головок: новый дизайн АСМ оптической головки с возможностью эффективной засветки и сбора лазерного излучения через объектив в геометриях: “сбоку”, “снизу” и “сверху”;
  • Комбинация с Раман спектрометром: спектрометр с автоматическим переключением до 5 лазеров и возможностью работы в широком диапазоне от УФ до ИК; Быстрое лазерное сканирование с использованием гальванозеркал;

 

Доклад вызвал широкий интерес среди пользователей и работников АСМ индустрии.

 

Больше информации доступно по ссылке

 

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы