DVIA-U - ЭМТИОН
DVIA-U

DAEIL SYSTEMS

DVIA-U активная виброизоляционная платформа модульного типа

Описание DVIA-U

Системы DVIA-U являются высокоэффективными платформами для подавления вибраций в диапазоне 1 – 10 Гц, в котором высокоточные инструменты, чувствительные к вибрациям, теряют свою производительность, что приводит к значительному ухудшению получаемых результатов. Рабочий диапазон DVIA-U начинается с 0.6 Гц и гарантирует степень виброизоляции в 99% при вибрациях в 10 Гц.

Система DVIA-UB – это экономически эффективное решение, разработанное специально для виброизоляции сканирующих электронных микроскопов. Данная модель имеет напольное типоисполнение. Она состоит из двух платформ DVIA-U1000, а также оснащена встроенным контроллером.

Система DVIA-UD представляет собой усовершенствованную систему в виде виброизолирующего стола (включает в свой состав платформы DVIA-U350), которая была разработана для применения в тех областях, где требуется сверхвысокая точность измерений. Эргономичный дизайн конструкции позволяет пользователям располагаться за данной системой как за обычным рабочим столом и полностью сосредоточиться на исследовании. В добавление, наличие колесиков и регулируемых по высоте опор позволяет перемещать и устанавливать данный стол в любом месте лаборатории.

Отличительные особенности DVIA-UB

  • Напольное типоисполнение
  • Низкий профиль
  • Подавление вибраций на 5 Гц со степенью 90%, на 10 Гц – 99%
  • Уникальный механизм обратной связи и система управления прямого действия
  • Контроль колебаний по всем шести степеням свободы
  • Грузоподъемность до 1000 кг
  • Возможность кастомизации

 

Отличительные особенности DVIA-UD

  • Типоисполнение в виде стола
  • Эргономичный дизайн для удобства оператора
  • Подавление вибраций на 5 Гц со степенью 90%, на 10 Гц – 99%
  • Уникальный механизм обратной связи и система управления прямого действия
  • Контроль колебаний по всем шести степеням свободы
  • Грузоподъемность до 1000 кг
  • Идеальное решение для применений, требующих сверхвысокой точности измерений

 

Области применения

  • Сканирующая электронная микроскопия
  • Сканирующая зондовая микроскопия
  • Сканирующая туннельная микроскопия в ультравысоком вакууме
  • Интерферометрия
  • Другие области применения, требующие сверхвысокой точности

 

 

Преодоление пределов работы систем пассивной виброизоляции

Поскольку системы активной виброизоляции не имеют собственных резонансных частот, они позволяют гасить вибрации в диапазоне 1 – 10 Гц, в отличие от систем пассивной виброизоляции, которые усиливают низкочастотные вибрации из-за наличия собственных резонансных частот, что оказывает особенно негативное влияние при получении изображений на уровне наномасштабов.

Отсутствие воздуха

Системы виброизоляции DVIA-U, в отличие от широко распространенных подобных систем, не требуют наличие внешних компрессоров подачи воздуха для обеспечения работоспособности. Ультра жесткие металлические пружины внутри изоляторов не только обеспечивают высокую степень поддержания равновесного состояния, но также гарантируют превосходную пассивную виброизоляцию от вибраций на высоких частотах.

 

 

Механизм обратной связи и система управления прямого действия

Системы активной виброизоляции серии DVIA используют уникальный механизм обратной связи (FB), который непрерывно регистрирует колебания, нарушающие равновесное состояние системы, и мгновенно реагирует на данную вибрацию с целью гашения возникающих колебаний в реальном времени. Система управления прямого действия (FF) используется для фильтрации вибраций, идущих от пола, с помощью предустановленных алгоритмов.

 

 

Контроль колебаний по всем шести степеням свободы

Внутренние сенсоры и силовые приводы, установленные внутри систем серии DVIA, регистрируют и компенсируют все колебания и перемещения по поступательным степеням свободы (движение вперед/назад вдоль осей X, Y, Z) и по вращательным степеням свободы (вращение/качание вокруг осей X, Y, Z).

Измерение со сверхвысоким разрешением на уровне наномасштабов

Использование систем активной виброизоляции DVIA-U позволяет избавиться от нежелательных искажений. Как показано на рисунке ниже, при исследовании с помощью СЭМ, использование системы DVIA-UB позволяет устранить размытие линий из-за низкочастотных вибраций и делает изображения более четкими.

 

Изображение с SEM микроскопа: без DVIA-UB (слева), с DVIA-UB (справа).

Модель Модульный тип Исполнение в виде стола Напольное исполнение
DVIA-U350 DVIA-U700 DVIA-UD350 DVIA-UD700
Габаритные размеры Виброизолятор 783 × 205 × 96 мм 818 × 220 × 96 мм 783 × 205 × 96 мм 818 × 220 × 96 мм
Платформа1) Не доступно для изменения Пользовательские размеры1)
Грузоподъемность 150 – 350 кг 350 – 700 кг 150 – 350 кг 350 – 700 кг
Силовой привод Электро-магнитный
Усиление силового привода Вертикаль: 6 Н
Горизонталь: 3 Н
Вертикаль: 12 Н
Горизонталь: 6 Н
Вертикаль: 6 Н
Горизонталь: 3 Н
Вертикаль: 12 Н
Горизонталь: 6 Н
Количество компенсируемых степеней свободы 6
Степень виброизоляции ≥ 90% при вибрациях в 2 Гц / 99% при вибрациях в 10 Гц
Активный рабочий диапазон 0.5 – 100 Гц
Время стабилизации2) ≤ 0.3 с
Напряжение питания 80 – 260 В, переменный ток, 50/60 Гц
Энергопотребление Типовое < 20 Вт < 60 Вт < 20 Вт < 60 Вт
Максимальное 65 Вт 195 Вт 65 Вт 195 Вт
Рабочая температура 5 – 50°C
Влажность 20 – 90%

1)Габаритные размеры верхней плиты определяются в  соответствии с требованиями конечного пользователя.
2)Время стабилизации измерено после того, как система на 90% была готова к работе с установленным оборудованием (данный параметр может изменяться в зависимости от нагрузки, прикладываемых сил, вибраций в помещении и т.п.)

 

Может быть полезно:

Оптические столы

Компания DAEIL Systems занимается изготовлением оптических столов с 1993 […]

Запрос цены Подробнее
DVID-T

Описание Работа систем данного типа основана на использовании пневматических […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA ACADEMIA

NTEGRA Academia — это многофункциональный АСМ для обучения старшеклассников […]

Запрос цены Подробнее

Описание методик

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ)

Магнитно-силовая Микроскопия (МСМ) [1, 2] является эффективным средством исследований […]


Микроскопия пьезоотклика (АСМ)

Основная идея Силовой Микроскопии Пьезоотклика заключается в локальном воздействии […]


Амплитудно-модуляционная АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Сканирующей Зондовой Микроскопии впервые было предложено Биннигом [1]. […]


Метод отображения Фазы АСМ

Использование колеблющегося кантилевера в Атомно-силовой микроскопии впервые было предложено […]


Научные результаты на обору­довании

Магнитооптические, структурные и поверхностные свойства (Bi, Ga)-замещенных DyIG пленок, полученных реактивно-ионным распылением.

Зависимости магнитооптических, структурных и морфологических свойств наноразмерных (Bi, Ga) […]


Микрораман. Измерение механического напряжения в кремнии

  Механическое напряжение может оказывать прямое или косвенное влияние […]


Автоматический поиск тонкодисперсных золотых фаз в слабо минерализованных горных породах с помощью СЭМ TESCAN с системой микроанализа AZtec Automated

При исследовании слабо минерализованных горных пород и выявлении особенностей […]


Исследование микроструктуры аустенитной нержавеющей стали с помощью детектора прошедших электронов TESCAN

Основными преимуществами сталей аустенитного класса являются их высокие служебные […]


Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы