LEA‑S500
SOL Instruments
Лазерный анализатор элементного состава
Описание LEA‑S500
Лазерный анализатор элементного состава LEA‑S500 производства Sol Instruments позволяет определять химические элементы от H до U с диапазоном измерения от 0.01 ppm до 100% за считанные минуты. Система LEA-S500 — это уникальный инструмент, который применяется при проведении лабораторного элементного анализа в металлургии, стекольной индустрии, микроэлектронике, промышленности и др. отраслях. Анализатор LEA-S500 является современным, безопасным и быстрым решением, позволяющим заменить РФА (рентгенофлуоресцентный анализ) анализ, ОЭС (Оптико-эмиссионная спектрометрия), мокрую химию (мокрый химический анализ )
LEA-S500 является идеальным прибором для исследований, разработки новых материалов и технологий их обработки, а также контроля качества на всех стадиях производственного процесса. Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах.
Уникальные возможности анализатора позволяют измерять концентрации химических элементов в стеклах, металлах и сплавах, определять химический состав включений, измерять распределение концентраций элементов по глубине, в пленках и покрытиях, а также выполнять анализ химических загрязнений в строительных материалах.
Анализатор элементного состава LEA-S500 – это современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%.
Вакуумная камера загрузки образцов LEA-S500
Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут. Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации. Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.
Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.
 |
 |
| Карта концентрации химического элемента на поверхности образца |
Анализ зеркальной поверхности, площадь 2х2 мм с шагом 100 мкм, 400 точек |
Cписок определяемых элементов и их массовых долей
| № п/п |
Определяемый элемент | Минимальная измеряемая массовая доля элемента, % | |
| Название | Символ | ||
| 1 | Барий | Ba | 0.001 |
| 2 | Цинк | Zn | 0.0005 |
| 3 | Алюминий | Al | 0.0001 |
| 4 | Стронций | Sr | 0.0001 |
| 5 | Бор | B | 0.0001 |
| 6 | Кальций | Ca | 0.001 |
| 7 | Свинец | Pb | 0.00005 |
| 8 | Калий | K | 0.01 |
| 9 | Молибден | Mo | 0.0001 |
| 10 | Магний | Mg | 0.01 |
| 11 | Цирконий | Zr | 0.0001 |
| 12 | Натрий | Na | 0.003 |
| 13 | Кремний | Si | 0.01 |
| 14 | Титан | Ti | 0.0001 |
| 15 | Фосфор | P | 0.01 |
| 16 | Ванадий | V | 0.00005 |
| 17 | Хром | Cr | 0.0002 |
| 18 | Кобальд | Co | 0.00002 |
| 19 | Железо | Fe | 0.0001 |
| 20 | Медь | Cu | 0.00005 |
| 21 | Никель | Ni | 0.0002 |
| 22 | Марганец | Mn | 0.0001 |
Источник возбуждения спeктров
— двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью
В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.
Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения.
Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.
Основные преимущества анализатора элементного состава LEA‑S500
-
Измерение концентрации химических элементов или их соединений в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой, без изменения агрегатного состояния проб, и без использования дорогостоящих расходных материалов.
-
Полный анализ химического состава за одно измерение с высокой чувствительностью и прецизионностью измерений в широком диапазоне концентраций.
-
Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий; анализ состава включений, пороков, дефектов; анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов; а также анализ проволоки любого диаметра, шариков и цилиндрических деталей.
-
Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм с построением карт распределения элементов по поверхности и глубине.
-
Универсальность — прибор не требует переналадки или модернизации для решения различных задач, а также удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания.
Применение лазерного анализатора элементного состава LEA‑S500
- Анализатор элементного состава LEA-S500 применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного (химического) состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий на заводах, и в рамках научных исследований.
- Прибор позволяет проводить как общий усредненный многоэлементный анализ состава пробы, так и локальный анализ малого объема и массы. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100 %.
- Области применения: стекольная промышленность, цементная промышленность, производство керамики, геологическая промышленность, полупроводниковая промышленность, черная и цветная металлургия, строительные материалы, криминалистика, научные исследования в институтах и учебных лабораториях, материаловедение, машиностроение, добыча и переработка сырья, защита окружающей среды, археология, сельское хозяйство (производство кормов, чая и т.п.), медицина, фармакология, а также сертификация.
Сертификация прибора LEA‑S500
Анализатор LEA-S500 поверен и внесен в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 38154-08.
Перечень нормативной документации (ГОСТ)
Перечень нормативной документации (ГОСТ) допускающий использование анализатора элементного состава LEA-S500 в качестве средства измерения
- ГОСТ 18895-97. Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
- ГОСТ Р 54153-2010. Сталь. Метод атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- ГОСТ 27611-88. Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
- ГОСТ 9716.2-79. Сплавы медно-цинковые. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 20068.2-79. Бронзы безоловянные. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 7727-81. Сплавы алюминиевые. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 23902-79. Сплавы титановые. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 23328-95. Сплавы цинковые. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 30082-93. Сплавы цинк-алюминиевые. Спектральный метод анализа.
- ГОСТ 17261-77. Цинк. Спектральный метод анализа.
- ГОСТ 31382-2009. Медь. Методы анализа.
- ГОСТ 3221 — 85. Алюминий первичный. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 851.8-93. Магний первичный. Спектральный метод определения натрия и калия.
- ГОСТ 851.10-93. Магний первичный. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля, меди, алюминия, марганца, титана.
- ГОСТ 15483.10-2004. Олово. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа. ГОСТ 8857-77. Свинец. Метод спектрального анализа.
- ГОСТ 6012-2011. Никель. Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- ГОСТ 8776-2010. Кобальт. Методы химико-атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- ГОСТ 9853.23–96. Титан губчатый. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля.
- ГОСТ 14339.5-91. Вольфрам. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 23201.0-78 — ГОСТ 23201.2-78. Глинозем. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ 25702.18-83. Концентраты редкометаллические. Спектральные методы определения окисей кальция, кремния, магния, ниобия, тантала, титана, циркония, хрома, алюминия бария, железа.
- ГОСТ 27973.1-88. Золото. Методы атомно-эмиссионного анализа.
- ГОСТ 28353.1-89. Серебро. Метод атомно-эмиссионного анализа.
- ГОСТ 28353.1-89. Серебро. Метод атомно-эмиссионного анализа.
- ГОСТ 12551.2–82. Сплавы платино-медные. Методы спектрального анализа.
- ГОСТ Р 52371-2005. Баббиты оловянные и свинцовые. Метод атомно-эмиссионной спектрометрии.
- ГОСТ Р 54335-2011. Палладий. Метод атомно-эмиссионного анализа с искровым возбуждением спектра.
- ГОСТ 12223.0-76. Иридий. Метод спектрального анализа.
- ГОСТ 12227.0-76. Родий. Метод спектрального анализа.
- ГОСТ 9519.1-77. Баббиты кальциевые. Метод спектрального анализа по литым металлическим стандартным образцам.
- ГОСТ 1429.14-2004. Припои оловянно-свинцовые. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- ГОСТ 5905-2004. Хром металлический. Технические требования и условия поставки.
- ГОСТ 13348-74. Сплавы свинцово-сурьмянистые. Метод спектрального анализа.
- МВИ.МН 3985-2011. Методика выполнения измерений химического состава стёкол и других материалов.
- МВИ.МН 5351-2015. Методика выполнения измерений концентраций химических элементов в волосах человека методом лазерной атомно-эмиссионной спектрометрии.
Ознакомиться более подробно c элементами для исследования на LEA-S500 Вы можете в нашей статье “Исследуемые элементы на лазерном анализаторе LEA-S500”.
| Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
| Фокусное расстояние коллиматорного объектива спектрографа, мм | 500 |
| Дифракционная решетка, штрихов/мм | 1800 |
| Линейная дисперсия на длине волны блеска, нм/мм | 1.0 |
| Диапазон регистрируемых длин волн спектров, нм | 200-800 |
| Спектральный диапазон, единовременно регистрируемый детектором (цифровой камерой), при определенном заданном положении дифракционной решетки – регион спектра, нм (диапазон уменьшается с увеличением длины волны) | 20-30 |
| Спектральное разрешение, нм/пиксель | 0,028 |
| Длина волны блеска, нм | 270 |
| Диапазон установки диаметра пятна
лазерного излучения на поверхности пробы, мм |
0,2 – 1,2 |
| Поле зрения системы видеонаблюдения, мм х мм | 1,2х1,2 |
| Тип встроенного технологического лазера | Полупроводниковый, 1мВт, 650-680 нм. |
Функциональные характеристики
| Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
| Допустимые габаритные размеры анализируемых проб, мм | От 12х12х2
до 75х75х40 |
| Диапазон перемещения пробы (установленной на столике),
осуществляемой системой позиционирования в двух взаимно перпендикулярных («XY») направлениях, мм |
±5 |
| Шаг перемещения пробы, осуществляемой
системой позиционирования вдоль осей «XY», мкм |
1 |
| Среда рабочей камеры | Воздух/разряженный воздух; |
| Среда спектрографа | Воздух/аргон |
| Остаточное давление в рабочей камере (в режиме откачки воздуха), мм.рт.ст | 200 |
| Время откачки воздуха из рабочей камеры, с | 30 |
Тип и характеристики системы возбуждения атомных эмиссионных спектров
| Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
| Тип системы | Лазерный |
| Тип лазера | Твердотельный АИГ:Nd3+частотный, 2-импульсный |
| Длина волны генерируемого излучения, нм | 1064 |
| Средняя энергия импульса излучения, мДж | 80-150 |
| Диапазон установки времени задержки между двумя импульсами, мкс | От 0 до 20 |
| Частота следования сдвоенных импульсов излучения, Гц | 20 |
| Длительность импульса излучения, нс | 10-12 |
| Система охлаждения лазера | Автономная (вода – воздух) |
Общие характеристики
| Наименование параметра, единица измерения | Номинальное значение |
| Электропитание | 220В, 50Гц |
| Потребляемая мощность, Вт, не более:
– аппаратный модуль (анализ); – аппаратный модуль в режиме «StandBy»; – программно-аппаратный комплекс (персональный компьютер и его периферия) |
950
10 500 |
| Время выхода на рабочий режим, мин., не более | 15 |
| Время непрерывной работы, ч., не менее | 8 |
| Габаритные размеры (без компьютера), мм. | 1100х550х750 |
| Масса, кг. | 120 |
Брошюра анализатор LEA-S500
ЗагрузитьМожет быть полезно:
МС 311
Преимущества спектрофотометра МС 311: Двойной монохроматор, обеспечивающий низкий […]
Запрос цены Подробнее
