Стилусный профилометр JS300C - ЭМТИОН
Стилусный профилометр JS300C

ZepTools

Бесшовное сканирование до 55 мм. Размер образцов до 300 мм.

Описание Стилусный профилометр JS300C

 

Стилусный профилометр JS300C — это промышленный зондовый измеритель, предназначенный для 2D/3D-сканирования крупногабаритных образцов с вертикальным разрешением до 0.05 нм. Модель разработана для интеграции в автоматизированные производственные линии, контроля качества полупроводниковых пластин, оптических компонентов и изделий из металлов, полимеров и композитов.

 

Зондовый профилометр JS300C поддерживает бесшовное сканирование длиной до 55 мм без прерывания. Автоматизированный моторизованный столик позволяет работать с образцами диаметром до 200 мм и толщиной до 50 мм. Встроенная система виброизоляции и прецизионный контроль усилия стилуса (0.5–50 мг) обеспечивают стабильность измерений даже в условиях промышленных вибраций. Отличие этой модели от модели JS10C заключается в наличие виброплатформы выполненной из гранитной плиты. Ближайшие аналоги JS300C — профилометры KLA Tencor, Taylor Hobson, Bruker Alphastep.

 

Стилусный профилометр JS300C поставляется с ПО для анализа 3D-топографии, дефектоскопии и контроля микрорельефа. Поддерживается интеграция с SMIF-манипуляторами, EFEM-модулями и интерфейсом E84 для автоматизации процессов в чистых помещениях и производственных комплексах.

 

 

Особенности стилусного профилометра серии JS300C:

 

  • Автоматизированная загрузка образцов диаметром до 300 мм.
  • 2D/3D-сканирование с разрешением 0.05 нм (вертикаль)
  • Моторизованный столик с ходом 300+ мм по XY, 10+ мм по Z.
  • Встроенная пассивная виброизоляция и система контроля усилия стилуса.
  • Анализ шероховатости, толщины пленок, деформаций, микротрещин и царапин.
  • Плоскостность сканирования — менее 20 нм в пределах 2 мм.

 

Модель стилусного профилометра

JS300C

Повторяемость измерения

≤ 0.5 нм (1 σ, 30 сканов эталона 1 мкм)

Макс. диапазон измерения

160 мкм

Вертикальное разрешение

0.05 нм

Конструкция

Напольная

Максимальный размер образцов

⌀ 300 мм

Толщина образца

50 мм

Тип контроля столика

Моторизованное управление (X/Y, поворот)

Повторяемость столика X/Y

± 3 мкм

Поворотный столик (Rθ)

±360°, шаг 0.1°

Максимальная длина сканирования

55 мм

Скорость сканирования

5 мкм/с ~ 1000 мкм/с

Усилие давления стилуса

0.5 ~ 50 мг (постоянный контроль)

Макс. количество точек сканирования

2 000 000 точек

Направление сканирования

Двунаправленное (влево-вправо)

Зонд

Стандартный (Радиус закругления ≥ 2 мкм, угол 60°)
Субмикронный (Радиус закругления ≤ 1 мкм, угол 60°)

Частота съема данных (АЦП)

200 Гц

Программное обеспечение

Измерение ступеней, шероховатости, плоскостности, коробления, 3D-измерения, измерение напряжений

Комплектация

–        стилусный профилометр;

–        управляющий ПК и ПО;

–        набор зондов;

–        ИБП On-line типа.

Опции Калибровочные образцы, виброплатформа
Каталог профилометры SURFIEW
Загрузить

Может быть полезно:

Профилометр SURFIEW Compact

       Сканирующий интерферометр белого света SURFIEW Compact […]

Запрос цены Подробнее
NTEGRA ACADEMIA

NTEGRA Academia – это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного […]

Запрос цены Подробнее
Термоэмиссионный СЭМ ЕМ6900

KYKY ЕМ6900 – это оптимальное решение для проведения СЭМ […]

Запрос цены Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы