ZepTools
Бесшовное сканирование до 55 мм. Размер образцов до 300 мм.
Стилусный профилометр JS300C — это промышленный зондовый измеритель, предназначенный для 2D/3D-сканирования крупногабаритных образцов с вертикальным разрешением до 0.05 нм. Модель разработана для интеграции в автоматизированные производственные линии, контроля качества полупроводниковых пластин, оптических компонентов и изделий из металлов, полимеров и композитов.
Зондовый профилометр JS300C поддерживает бесшовное сканирование длиной до 55 мм без прерывания. Автоматизированный моторизованный столик позволяет работать с образцами диаметром до 200 мм и толщиной до 50 мм. Встроенная система виброизоляции и прецизионный контроль усилия стилуса (0.5–50 мг) обеспечивают стабильность измерений даже в условиях промышленных вибраций. Отличие этой модели от модели JS10C заключается в наличие автоматизированного столика образцов, функции 3D сканирования и анализа топографии, наличия виброоснования на базе гранитной плиты и расширенных портов доступа для управления системой. Ближайшие аналоги JS300C — профилометры KLA Tencor, Taylor Hobson, Bruker Alphastep.
Воспроизводимость измерения высоты <0.5 нм (при измерении ступени 1 мкм (1σ) при сканировании до 30 раз)
Стилусный профилометр JS300C поставляется с ПО для анализа 3D-топографии, дефектоскопии и контроля микрорельефа. Поддерживается интеграция с SMIF-манипуляторами, EFEM-модулями и интерфейсом E84 для автоматизации процессов в чистых помещениях и производственных комплексах. Также доступны опции для интеграции в чистые помещения (FFU-модуль), автоматизированные линии и стилусные зонды разной конфигурации с алмазным наконечником.
![]() |
![]() |
Диаметр скругления зонда ≤ 1 мкм |
Диаметр скругления зонда ≥ 2 мкм |
![]() |
Контроль толщины слоя металлизации |
![]() |
Контроль нанесения фоторезиста |
![]() |
Анализ толщины пленки |
![]() |
Интерфейс контрольной CCD камеры |
![]() |
Процесс измерения 2D профиля |
![]() |
Анализ 3д топографии |
Стилусный профилометр серии JS представлен в демонстрационной лаборатории нашей компании. Вы можете ознакомиться с работой профилометра в действии и оценить его ключевые преимущества на практике.
Компания ЭМТИОН является официальным дистрибьютором ZEP TOOLS (КНР). Компания ZEP TOOLS с 1990-ых годов занимается производством и поставками высокотехнологичного научного оборудования. Основная специализация компании – производство и поставки сканирующих электронных микроскопов (термо- и автоэмиссионные системы), а также высокоразрешающих стилусных 2D/3D профилометров.
ЭМТИОН — это российская компания, специализирующаяся на разработке и производстве аналитического и технологического оборудования. Нашей миссией является создание в России технологического задела в области научного приборостроения для решения научных и производственных задач в области микроэлектроники, нанотехнологий и биотехнологий. Специалисты компании имеют 15-летний опыт в разработках, производстве и поставках аналитического и технологического оборудования. Предлагаемое нашей командой оборудование является не только основой технологического прогресса Российских ученых, но и успешно конкурирует на западных рынках с ведущими мировыми производителями.
ЭМТИОН предоставляет заказчикам как отдельные решения, так и производит оснащение лабораторий под ключ, начиная с этапов проработки концепции и предпроектных работ и заканчивая вводом оборудования в эксплуатацию.
Модель стилусного профилометра |
JS300C |
||
Повторяемость измерения |
≤ 0.5 нм (1 σ, 30 сканов эталона 1 мкм) |
||
Макс. диапазон измерения |
160 мкм |
||
Вертикальное разрешение |
0.05 нм |
||
Конструкция |
Напольная |
||
Максимальный размер образцов |
⌀ 300 мм |
||
Толщина образца |
50 мм |
||
Тип контроля столика |
Моторизованное управление (X/Y, поворот) |
||
Повторяемость столика X/Y |
± 3 мкм |
||
Поворотный столик (Rθ) |
±360°, шаг 0.1° |
||
Максимальная длина сканирования |
55 мм |
||
Скорость сканирования |
5 мкм/с ~ 100 мкм/с |
||
Усилие давления стилуса |
0.5 ~ 50 мг (постоянный контроль) |
||
Макс. количество точек сканирования |
2 000 000 точек |
||
Направление сканирования |
Двунаправленное (влево-вправо) |
||
Зонд |
Стандартный (Радиус закругления ≥ 2 мкм, угол 60°) |
||
Частота съема данных (АЦП) |
200 Гц |
||
Программное обеспечение |
Измерение ступеней, шероховатости, плоскостности, коробления, 3D-измерения, измерение напряжений |
||
Комплектация |
– стилусный профилометр; – управляющий ПК и ПО; – набор зондов; – ИБП On-line типа. |
||
Опции | Калибровочные образцы, виброплатформа |
Сканирующий интерферометр белого света SURFIEW Compact – это […]
Запрос цены ПодробнееNTEGRA Academia – это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного […]
Запрос цены ПодробнееKYKY ЕМ6900 – это оптимальное решение для проведения СЭМ […]
Запрос цены Подробнее