Описание Оптика для анализа топографии

Данная опция определяет оптическую конфигурацию прибора и напрямую влияет на диапазон и точность измерений. Комбинация линз позволяет адаптировать профилометр для решения конкретных измерительных задач.

• Интерференционные линзы: Предназначены для проведения высокоточных измерений профиля поверхности с использованием явления интерференции света. Доступны линзы общего назначения с фиксированным увеличением (от 2.5x до 100x) для стандартных задач, а также линзы с большим полем зрения (фиксированным или переменным) для измерения протяженных или сложных объектов.

• Объективы: Обеспечивают основное увеличение при измерении. Широкий диапазон увеличений (от 2.0x до 150x) позволяет проводить как макроскопическую оценку, так и детальный анализ микроструктур.

• Зум-линзы: Обеспечивают плавное изменение увеличения в заданном диапазоне (например, 0.55x – 2.0x), что позволяет гибко настраивать поле зрения и разрешение без смены объективов, ускоряя процесс позиционирования и измерения.

Оптическая конфигурация подбирается под конкретные требования к измерению: высота ступеньки, шероховатость, размер детали. Полезна для метрологов, инженеров контроля качества и исследователей, работающих с микроэлектроникой, прецизионной механикой, MEMS-устройствами и другими компонентами, требующими точного измерения топографии.