ЭМТИОН
Длина волны 120-320 нм
Вакуумный УФ-спектрометр UF-200 – это аналитический спектрофотометр, работающий в условиях высокого вакуума и позволяющий проводить измерения в УФ области спектра с высокой точностью. Прибор предназначен для решения узкого круга исследовательских задач, связанных с регистрацией и обработкой спектров, количественным анализом и многокомпонентным анализом, а также кинетическими измерениями. Прибор позволяет измерять спектры поглощения образца, параметры пропускания, отражения, рассеяния и поглощения твердых и жидких образцов, и другое.
В качестве источника света УФ-спектрофотометр UF-200 использует дейтериевую лампу. Излучаемый свет фокусируется в монохроматоре, который выделяет излучение в пределах заданного спектра, и фокусирует сигнал на образец. Для регистрации излучения используется ФЭУ детектор, далее ПО системы проводит анализ полученных спектров поглощения для последующего анализа необходимых характеристик образца.

![]() |
![]() |
| Тест точности длины волны | Тест стабильности |
![]() |
![]() |
|
Тест повторяемости в режиме пропускания
|
Тест повторяемости в режиме отражения
|
| Длина волны |
120-320 нм |
|
Повторяемость длины волны |
0.05 нм |
|
Вакуум |
5 ×10-3 Па |
|
Дейтериевый источник света |
Материал окна – MgF2, потребляемая мощность – 200 Вт |
|
Входная/выходная щель |
120-320 нм |
| Вакуум | 5 ×10-3 Па |
|
Частота модуляции |
90 Гц |
| Детектор | Двойной ПМТ-детектор, включая ПМТ-детектор образца и ПМТ-детектор опорного света |
|
Диапазон вращения детектора образца |
10°-180° |
| Угол вращения образца | 0-60° |
|
Точность калибровки |
0.1 нм |
| Стабильность | <0.5% @ в час |
XAFS-спектроскопия (сокр. англ. X-ray absorption fine structure) является […]
Запрос цены Подробнее
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) – это […]
Запрос цены Подробнее
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр (РФЭС, XPS) состоит из основной […]
Запрос цены Подробнее