Лазерный сканирующий микроскоп. 4 лазера: 405/488/561/640 нм[...]
Анализ трехмерных структур на микроскопическом уровне.[...]
В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]
Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]
Дифракционная решетка В спектральных приборах для пространственного разложения […]
Примеры и кейсы применения лазерного анализатора LEA S-500 Лазерно-искровой […]
Исследователи лаборатории структурной химии ФИЦ ПХФ и МХ […]
Рамановская спектроскопия — аналитический метод, основанный на явлении неупругого […]
Согласие на обработку персональных данных