Лазерный сканирующий микроскоп. 4 лазера: 405/488/561/640 нм[...]
Анализ трехмерных структур на микроскопическом уровне.[...]
Анализ текстур — метод исследования текстурных свойств объектов, […]
Работа с сканирующим электронным микроскопом (СЭМ) требует не […]
Фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС, или PES) – это метод […]
Примеры и кейсы применения лазерного анализатора LEA S-500 Лазерно-искровой […]
Исследователи лаборатории структурной химии ФИЦ ПХФ и МХ […]
Рамановская спектроскопия — аналитический метод, основанный на явлении неупругого […]
Согласие на обработку персональных данных