Лазерный автоматический эллипсометр MUL-LA - ЭМТИОН
Лазерный автоматический эллипсометр MUL-LA

Китай

Автоматический лазерный эллипсометр с фиксированной длиной волны 632.8 нм

Описание Лазерный автоматический эллипсометр MUL-LA

 

Лазерный эллипсометр MUL-LA – это лазерный эллипсометр, который применяется для измерения параметров пленок на гладкой подложке. Он обеспечивает измерение толщины тонких пленок и оптических констант на длине волны гелий-неонового лазера 632,8 нм с высокой точностью. Прибор предназначен для интеграции в автоматизированные технологические процессы и системы контроля качества на производстве, обеспечивая высокую пропускную способность.

 

Прибор используется для определения эллипсометрических параметров (Ψ, Δ), толщины пленки, показателя преломления *n* и коэффициента экстинкции *k*. Оптическая система с одним компенсатором и функцией автоматической регулировки усиления детектора обеспечивает стабильность и повторяемость результатов. Конфигурация поддерживает полную автоматизацию измерений.

 

 

 

Фото программного обеспечения системы

 

 

Особенности лазерного эллипсометра MUL-LA

 

  • Полная автоматизация: Интеграция в автоматические линии с поддержкой систем подачи (конвейерная лента, робот-манипулятор).

  • Сверхвысокая скорость измерений: Цикл измерений (Cycle Time) может быть оптимизирован до 0.5 секунды на точку.

  • Оптическая система с компенсатором и автоматической регулировкой усиления сигнала.

  • Координатное сканирование (mapping): Поддержка двух режимов сканирования: по декартовым (X-Y) и полярным (R-θ) координатам.

  • Промышленная интеграция: Возможность подключения к системам MES (Manufacturing Execution System) и удаленного управления.

  • Автоматический столик: X-Y или R-θ для сканирования по площади образца.

  • Ручной гониометр с плавной регулировкой угла падения в диапазоне 40° – 90° (настройка производится оператором).

  • Возможность оснащения системой позиционирования (камера + автофокус).

 

 

Опции

 

Характеристика MUL-M MUL-A MUL-LM   MUL-LA
Краткое описание Спектральный эллипсометр Одноволновый лазерный эллипсометр
Автоматический столик Нет Да Нет Да
Камера с автофокусом и объективом Нет Да Нет Да
Опции расширения спектра BASE: 350 – 1050 нм

UV: 245 – 1050 нм
EUV: 193 – 1050 нм

BASE: 350 – 1050 нм

UV: 245 – 1050 нм
EUV: 193 – 1050 нм
NIR-EUV: 193 – 1690 нм

Фиксированная длина волны: 632.8 нм
Микро-пятно (Micro Spot) 30 мкм

(стандарт 200 мкм)

30 мкм

(стандарт 200 мкм)

Модель MUL LA
Измеряемые параметры Эллипсометрические углы Ψ и Δ, толщина пленки (d), показатель преломления (n)
Точность измерения Толщина: 0.1 нм, Показатель преломления: 0.001
Длина волны источника 632.8 нм (гелий-неоновый лазер)
Оптическая компенсация Один компенсатор (одна компенсирующая пластина)
Оптическое детектирование Автоматическая регулировка усиления
Скорость измерения (одна точка) ~1 секунда
Опции Микро-пятно (Micro Spot): 30 мкм;

Столик для образцов: 4, 6, 8, 12 дюймов.

Может быть полезно:

Спектральный ручной эллипсометр MUL-M

  Спектральный эллипсометр MUL-M – это высокоточный и быстрый […]

Запрос цены Подробнее
Спектральный автоматический эллипсометр MUL-A

  Автоматический спектральный эллипсометр MUL A – это высокоточный […]

Запрос цены Подробнее
Измеритель толщины пленок EH100

  EH100 – это прибор общего назначения для измерения […]

Запрос цены Подробнее

Оставьте заявку

И мы ответим на интересующие Вас вопросы