ПЭМ микроскоп с разрешением 0.14 нм[...]
В производстве полупроводников методы измерения металлических загрязнений делятся […]
Спектрофотометрический анализ является одним из ключевых методов в […]
Дифракционная решетка В спектральных приборах для пространственного разложения […]
Примеры и кейсы применения лазерного анализатора LEA S-500 Лазерно-искровой […]
Исследователи лаборатории структурной химии ФИЦ ПХФ и МХ […]
Рамановская спектроскопия — аналитический метод, основанный на явлении неупругого […]
Согласие на обработку персональных данных