TGQ1
TipsNano
Калибровочная решетка оси: X, Y, Z
Описание TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 предназначена для:
- одновременной калибровки по Z, X. Y;
- латеральной калибровки сканера;
- определения латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа.
- Высота ступеньки – среднее значение, основанное на измерениях 5 решеток из партии в 300 штук. Тестирование проводится на АСМ, откалиброванном решеткой TGZ1, сертифицированной в PTB. Основное значение высоты ступени может изменяться в пределах партии на 15% от значения, данного в спецификации.
АСМ изображение TGQ1 решетки.
Подходит для атомно-силовых микроскоп в том числе серии NTEGRA, SPECTRA и других.
Магазин расходных материалов можно посетить здесь
Может быть полезно:
Полуконтактные кантилеверы
NSG01 Высокоразрешающие кремниевые АСМ кантилеверы серии NSG01 предназначены для […]
Запрос цены Подробнее
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1 для вертикальной калибровки (высота ступенек 20±2нм) […]
Запрос цены Подробнее