Описание NTEGRA ACADEMIA

NTEGRA Academia – это конфигурация микроскопа, ориентированная для образовательного процесса. Методические материалы в комплекте служат для обучения старшеклассников и студентов ВУЗов основам сканирующей зондовой микроскопии, включая выполнение лабораторных работ и исследовательских проектов в области нанотехнологий, физики, химии, биологии, медицины и др.

NTEGRA Academia поддерживает более 40 методик измерения, что позволяет анализировать физико-химические свойства поверхности с высокой точностью и разрешением. Эксперименты можно проводить не только с помощью обычных кремниевых кантилеверов, но и с помощью вольфрамовой проволоки, которая является расходным материалом и проста в использовании в учебных целях.

Специальное устройство для создания вольфрамовых зондов методом электрохимического травления, позволяющее самим студентам оттачивать вольфрамовые зонды.

Сменный сканер с емкостными датчиками с диапазоном сканирования в режиме высокого напряжения (X × Y × Z); 100х100х10 мкм, в режиме низкого напряжения (X × Y × Z); 3x3x2 мкм Минимальный шаг сканирования: 2 нм.

Программное обеспечение Nova SPM для высокоэффективного управления СЗМ и обработки изображений.

Электроника нового поколения обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта функция представляется основной для работы с высокочастотными режимами АСМ и использованием высокочастотных кантилеверов. АСМ для обучения.

Применение:

• Биология и Биотехнология (Протеины, ДНК, вирусы, бактерии, эукариоты, ткани)
• Материаловедение (Морфология поверхности, локальные механические, пьезоэлектрические, адгезионные и трибологические характеристики)
• Магнитные Материалы (Доменные структуры, магнитные частицы, магнитные пленки и многослойные структуры, устройства спинтроники, зависимость магнитных свойств от внешнего магнитного поля)
• Полупроводники (Морфология подложек, распределение примесей, гетерограницы и границы p-n переходов, межфазные границы, качество и толщины функциональных слоев)
• Полимеры и Тонкие Органические Пленки (Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, блок-сополимеры, политмерные наночастицы, ЛБ-пленки, тонкие пленки)
• Запоминающие среды и устройства (CD, DVD диски, накопителя терабитных ЗУ с термомеханической, электрической, емкостной и др. типами записи)
• Наноматериалы (Нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы)
• Наноструктуры (Фуллерены, нанотрубки, нанокапсулы)
• Наноэлектроника (Квантовые точки)
• Нанообработка (АСМ литография: силовая (наногравировка и наночеканка), токовая (Локальное анодное оксидирование), СТМ литография)
• Наноманипуляции (Перемещение и ориентирование нанообъектов)

Оборудование поверено и внесено в Государственный реестр средств измерений (Госреестр СИ), номер записи 84445-22.